林 優一 | 東北大学
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概要
関連著者
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林 優一
東北大学
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水木 敬明
東北大学
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曽根 秀昭
東北大学
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林 優一
東北大学大学院工学研究科
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水木 敬明
東北大学サイバーサイエンスセンター
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曽根 秀昭
東北大学サイバーサイエンスセンター
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青木 孝文
東北大学
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本間 尚文
東北大学
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本間 尚文
東北大学大学院情報科学研究科
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江原 康生
京都大学学術情報メディアセンター
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本間 尚文
東北大
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Aoki Takafumi
Graduate School Of Information Sciences Tohoku University:(present Address)presto Jst.
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青木 孝文
東北大学大学院情報科学研究科
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林 優一
東北大学大学院情報科学研究科
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曽根 秀昭
東北大学情報シナジーセンター
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水木 敬明
東北大学情報シナジーセンター
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青木 孝文
東北大学 大学院情報科学研究科
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Aoki Takafumi
The Department Of System Information Sciences Graduate School Of Information Sciences Tohoku Univers
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嶋田 晴貴
東北大学
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上原 和也
東北大学
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青木 孝文
東北大学大学院情報科学研究科:東北大学情報知能システム(IIS)研究センター
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大村 孔平
東北大学
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大村 孔平
東北大学大学院情報科学研究科
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小林 瑞樹
東北大学
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井上 浩
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
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萓野 良樹
秋田大学
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菅原 健
東北大学大学院情報科学研究科
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衣川 昌宏
東北大学大学院情報科学研究科
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井上 浩
秋田大学
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萱野 良樹
秋田大学
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井上 浩
秋田大学 大学院工学資源学研究科
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池松 大志
東北大学
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菅原 健
東北大学
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萓野 良樹
秋田大学工学資源学研究部電気電子工学科
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松田 和樹
東北大学サイバーサイエンスセンター
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佐藤 証
独立行政法人産業技術総合研究所情報セキュリティ研究センター
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萱野 良樹
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
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佐藤 証
産業技術総合研究所
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本間 尚文
東北大学 大学院情報科学研究科
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Aoki T
The Department Of Computer And Mathematical Sciences Graduate School Of Information Sciences Tohoku
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佐藤 証
産業技術総合研究所情報セキュリティ研究センター
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衣川 昌宏
東北大学
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佐藤 証
独立行政法人産業技術総合研究所
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井干 浩
秋田大学鉱山学部電気電子工学科
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松田 重裕
東北大学
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松田 和樹
東北大学大学院情報科学研究科
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多田 成宏
東北大学
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林 優一
東北大学電気通信研究所
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水気 敬明
東北大学
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佐々木 匠
東北大学
著作論文
- BI-1-6 伝送線路の接触不良によるEMC問題(BI-1.GHz帯におよぶ静電気・接点間放電による電磁妨害の脅威,依頼シンポジウム,ソサイエティ企画)
- 情報機器に接続された線路が機器からの電磁的情報漏洩に与える影響
- 情報機器に接続された線路が機器からの電磁的情報漏洩に与える影響(一般講演)
- B-4-64 暗号機器の基板サイズが機器からの電磁的情報漏洩に与える影響(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- 暗号モジュールの電磁的な情報漏洩の解析
- 情報機器に接続された線路が機器からの電磁的情報漏洩に与える影響(一般講演)
- C-5-4 コネクタ接触不良部の高周波等価回路に関する基礎的検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- CS-6-3 コネクタの緩みが放射電磁界に与える影響に関する基礎的検討(CS-6.光・高周波デバイスの接続技術,シンポジウムセッション)
- L-007 周波数領域での暗号モジュールの電力解析(ネットワーク・セキュリティ,一般論文)
- B-4-47 電源線非接地が漏洩情報の取得性に与える影響に関する検討(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- C-5-6 コネクタの接触状態が伝送特性に与える影響に関する基礎的検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- SNRに基づいた電子機器からの情報取得性に関する基礎的検討
- 情報機器に接続された線路が電磁情報漏洩に与える影響
- B-4-58 暗号モジュールに対する意図的な電磁妨害に関する検討(B-4. 環境電磁工学,一般セッション)
- B-4-59 オンチップRC発振器の周波数変動からの情報漏えいの解析(B-4. 環境電磁工学,一般セッション)
- C-5-11 コネクタにおけるインダクタンスの増加が放射電磁雑音に与える影響(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 意図的な電磁妨害による暗号モジュールへの故障注入に関する検討
- 情報機器における放射電磁界分布と電磁的情報漏洩に関する基礎的検討
- 情報機器からの電磁情報漏洩における情報取得性の予測に関する検討 (環境電磁工学)
- 情報機器における放射電磁界分布と電磁的情報漏洩に関する基礎的検討 (環境電磁工学)
- 意図的な電磁妨害による暗号モジュールへの故障注入メカニズムに関する検討 (環境電磁工学)
- B-4-28 暗号機器上のサイドチャネル情報取得性分布図を用いた電磁波解析対策の評価(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- D-1-5 部分的漏えい鍵共有グラフにおける鍵選択に関する一考察(D-1.コンピュテーション,一般セッション)
- C-5-1 コネクタ接触境界における電流路の変化とインダクタンス増加の関係(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 情報機器からの電磁情報漏洩における情報取得性の予測に関する検討
- 周波数領域における電磁波解析の効率化に関する検討
- 情報機器を構成する基板および接続線路が電磁情報漏洩に与える影響
- 車載電子機器の相互接続部の接触不良が放射電磁波に与える影響
- コネクタの緩みによる放射電磁雑音増大のメカニズムに関する一検討
- 暗号モジュールに対するサイドチャネル攻撃とその対策技術の研究動向
- 意図的な電磁妨害によるフォールト発生メカニズムに関する基礎的検討 (エレクトロニクスシミュレーション)
- 意図的な電磁妨害によるフォールト発生メカニズムに関する基礎的検討 (環境電磁工学)
- 意図的な電磁妨害による暗号モジュールへの故障注入メカニズムに関する検討
- 意図的な電磁妨害によるフォールト発生メカニズムに関する基礎的検討
- コネクタの高周波応答に基づく接触状態推定に関する基礎的検討
- 選択したデータセットを用いた暗号デバイスの電磁情報漏えいの効率的な安全性評価(多様化する電磁環境におけるEMC対策設計・評価技術論文)
- アース線非接地時に生ずる電源線上の共振発生メカニズムの検討(若手研究者発表会)
- コネクタの高周波応答に基づく接触状態推定に関する基礎的検討(生体,EMC,一般)
- コネクタの高周波応答に基づく接触状態推定に関する基礎的検討(生体,EMC,一般)
- A-7-5 漏えい電磁情報を用いた任意の処理への非侵襲な故障注入手法(A-7.情報セキュリティ,一般セッション)
- B-4-47 暗号処理時に生ずる漏えい電磁信号とハミング距離の関係(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- B-4-59 暗号モジュールへの妨害波注入時の磁界分布可視化に関する検討(B-4.環境電磁工学)
- 漏えい情報を用いた注入タイミングを制御可能な暗号モジュール外部からの故障注入メカニズムに関する検討(EMC一般,マイクロ波,電磁界解析)
- 漏えい情報を用いた注入タイミングを制御可能な暗号モジュール外部からの故障注入メカニズムに関する検討(EMC一般,マイクロ波,電磁界解析)
- 漏えい情報を用いた注入タイミングを制御可能な暗号モジュール外部からの故障注入メカニズムに関する検討(EMC一般,マイクロ波,電磁界解析)
- 選択したデータセットを用いた暗号デバイスの電磁情報漏えいの効率的な安全性評価
- コネクタの高周波応答に基づく接触状態推定に関する基礎的検討
- コネクタの高周波応答に基づく接触状態推定に関する基礎的検討