選択したデータセットを用いた暗号デバイスの電磁情報漏えいの効率的な安全性評価

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概要

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• 2013-04-01

著者

• 青木 孝文

  東北大学

• 曽根 秀昭

  東北大学

• 林 優一

  東北大学

• 水木 敬明

  東北大学

• 本間 尚文

  東北大学

• 嶋田 晴貴

  東北大学

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