コネクタの高周波応答に基づく接触状態推定に関する基礎的検討 (環境電磁工学)

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 2012-10-25

著者

• 水木 敬明

  東北大学サイバーサイエンスセンター

• 林 優一

  東北大学大学院工学研究科

• 水木 敬明

  東北大学

関連論文

• コネクタ接触点の分布がコモンモード電流に与える影響に関する考察 (環境電磁工学)
• B-4-36 コネクタに接触障害を有する伝送路からのコモンモード放射に関する一検討(B-4. 環境電磁工学,一般セッション)
• 多値2入力論理関数のAND-EXOR論理式の最小化(理論,回路,ネットワークプロセッサ,通信のための信号処理,無線LAN/PAN,一般)
• BI-1-6 伝送線路の接触不良によるEMC問題(BI-1.GHz帯におよぶ静電気・接点間放電による電磁妨害の脅威,依頼シンポジウム,ソサイエティ企画)
• 情報機器の物理構造がコモンモード電流の周波数スペクトルに与える影響 (マイクロ波)
• 情報機器の物理構造がコモンモード電流の周波数スペクトルに与える影響 (環境電磁工学)
• 情報機器に接続された線路が機器からの電磁的情報漏洩に与える影響
• 情報機器に接続された線路が機器からの電磁的情報漏洩に与える影響(一般講演)
• アース線の非接地が情報漏えいに与える影響の測定
• C-5-16 コネクタ接触不良部における電流分布に関する考察(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• アース線の非接地が情報漏えいに与える影響の測定(研究速報)
• B-4-64 暗号機器の基板サイズが機器からの電磁的情報漏洩に与える影響(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
• 暗号モジュールの電磁的な情報漏洩の解析
• 情報機器に接続された線路が機器からの電磁的情報漏洩に与える影響(一般講演)
• BI-2-7 漏洩電磁界による情報システムセキュリティ低下の問題(BI-2.複合システムのノイズ問題を考える,ソサイエティ企画)
• C-5-4 コネクタ接触不良部の高周波等価回路に関する基礎的検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• 伝送路に接続されたコネクタにおける接触点が不要放射に与える影響(ショートノート(卒論・修論特集))
• 動接点開離時のアーク電力波形の開離速度依存性の測定(EMD関連,EMC/EMD/一般)
• 動接点開離時のアーク電力波形の開離速度依存性の測定(EMD関連,EMC/EMD/一般)
• 動接点開離時のアーク電力波形の開離速度依存性の測定
• 伝送路の周囲電磁界の測定における接触不良コネクタの位置の影響
• CS-5-1 コネクタ接触障害を有する伝送路の長さの雑音放射への影響(CS-5.信号・電力伝送用デバイスの信頼性とその課題,シンポジウム)
• 情報機器の物理構造がコモンモード電流の周波数スペクトルに与える影響(マイクロ波,EMC,一般)
• 情報機器の物理構造がコモンモード電流の周波数スペクトルに与える影響(マイクロ波,EMC,一般)
• コネクタ接触点の分布がコモンモード電流に与える影響に関する考察(若手研究者発表会)
• CS-6-3 コネクタの緩みが放射電磁界に与える影響に関する基礎的検討(CS-6.光・高周波デバイスの接続技術,シンポジウムセッション)
• L-007 周波数領域での暗号モジュールの電力解析(ネットワーク・セキュリティ,一般論文)
• 伝送路の周囲電磁界の測定における接触不良コネクタの位置の影響(PCB・線路・近傍界関連,放送EMC/一般)
• B-4-47 電源線非接地が漏洩情報の取得性に与える影響に関する検討(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
• 多値2入力論理関数のAND-EXOR論理式の最小化(理論,回路,ネットワークプロセッサ,通信のための信号処理,無線LAN/PAN,一般)
• 多値2入力論理関数のAND-EXOR論理式の最小化(理論,回路,ネットワークプロセッサ,通信のための信号処理,無線LAN/PAN,一般)
• 緩みを有するコネクタの高周波等価回路に関する基礎的検討 (機構デバイス)
• 意図的な電磁妨害による暗号モジュールへの故障注入に関する検討 (環境電磁工学)
• C-5-6 コネクタの接触状態が伝送特性に与える影響に関する基礎的検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• SNRに基づいた電子機器からの情報取得性に関する基礎的検討
• 情報機器に接続された線路が電磁情報漏洩に与える影響
• 鍵共有グラフを用いた絶対に安全なメッセージ送信 (コンピュテーンョン)
• 緩みを有するコネクタの高周波等価回路に関する基礎的検討
• B-4-58 暗号モジュールに対する意図的な電磁妨害に関する検討(B-4. 環境電磁工学,一般セッション)
• B-4-59 オンチップRC発振器の周波数変動からの情報漏えいの解析(B-4. 環境電磁工学,一般セッション)
• C-5-11 コネクタにおけるインダクタンスの増加が放射電磁雑音に与える影響(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• 意図的な電磁妨害による暗号モジュールへの故障注入に関する検討
• 鍵共有グラフを用いた絶対に安全なメッセージ送信
• 情報機器における放射電磁界分布と電磁的情報漏洩に関する基礎的検討
• 情報機器を構成する基板および接続線路が電磁情報漏洩に与える影響
• 情報機器からの電磁情報漏洩における情報取得性の予測に関する検討 (環境電磁工学)
• 情報機器における放射電磁界分布と電磁的情報漏洩に関する基礎的検討 (環境電磁工学)
• 暗号モジュールに対するサイドチャネル攻撃とその対策技術の研究動向 (特集 2012年研究開発の動向と最前線)
• コネクタの緩みによる放射電磁雑音増大のメカニズムに関する一検討 (特集 静電気放電(ESD)のEMC技術)
• 意図的な電磁妨害による暗号モジュールへの故障注入メカニズムに関する検討 (環境電磁工学)
• アース線非接地時に生ずる電源線上の共振発生メカニズムの検討 (環境電磁工学)
• B-4-28 暗号機器上のサイドチャネル情報取得性分布図を用いた電磁波解析対策の評価(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
• D-1-5 部分的漏えい鍵共有グラフにおける鍵選択に関する一考察(D-1.コンピュテーション,一般セッション)
• C-5-1 コネクタ接触境界における電流路の変化とインダクタンス増加の関係(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• 情報機器からの電磁情報漏洩における情報取得性の予測に関する検討
• 周波数領域における電磁波解析の効率化に関する検討
• 情報機器を構成する基板および接続線路が電磁情報漏洩に与える影響
• 車載電子機器の相互接続部の接触不良が放射電磁波に与える影響
• コネクタの緩みによる放射電磁雑音増大のメカニズムに関する一検討
• 暗号モジュールに対するサイドチャネル攻撃とその対策技術の研究動向
• コネクタの高周波応答に基づく接触状態推定に関する基礎的検討 (環境電磁工学)
• コネクタの高周波応答に基づく接触状態推定に関する基礎的検討 (エレクトロニクスシミュレーション)
• 意図的な電磁妨害によるフォールト発生メカニズムに関する基礎的検討 (エレクトロニクスシミュレーション)
• 意図的な電磁妨害によるフォールト発生メカニズムに関する基礎的検討 (環境電磁工学)
• 意図的な電磁妨害による暗号モジュールへの故障注入メカニズムに関する検討
• 意図的な電磁妨害によるフォールト発生メカニズムに関する基礎的検討
• コネクタの高周波応答に基づく接触状態推定に関する基礎的検討
• C-5-4 高周波信号による真実接触状態測定の一考察(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
• 選択したデータセットを用いた暗号デバイスの電磁情報漏えいの効率的な安全性評価(多様化する電磁環境におけるEMC対策設計・評価技術論文)
• アース線非接地時に生ずる電源線上の共振発生メカニズムの検討(若手研究者発表会)
• コネクタの高周波応答に基づく接触状態推定に関する基礎的検討(生体,EMC,一般)
• コネクタの高周波応答に基づく接触状態推定に関する基礎的検討(生体,EMC,一般)
• A-7-5 漏えい電磁情報を用いた任意の処理への非侵襲な故障注入手法(A-7.情報セキュリティ,一般セッション)
• BI-1-1 安全・安心な情報通信社会を実現する電磁情報セキュリティ評価・対策技術(BI-1.安全・安心な情報通信会社を実現する電磁情報セキュリティ評価・対策技術,依頼シンポジウム,ソサエティ企画)
• B-4-59 暗号モジュールへの妨害波注入時の磁界分布可視化に関する検討(B-4.環境電磁工学)
• BI-1-6 意図的な電磁妨害による暗号デバイスからの情報漏えいの脅威とその対策(BI-1.安全・安心な情報通信会社を実現する電磁情報セキュリティ評価・対策技術,依頼シンポジウム,ソサエティ企画)
• BI-1-9 実践的教育プログラムを通じた電磁情報セキュリティ人材の育成(BI-1.安全・安心な情報通信会社を実現する電磁情報セキュリティ評価・対策技術,依頼シンポジウム,ソサエティ企画)
• 暗号機器に故障を引き起こす妨害電磁波の可視化(PCB,情報セキュリティ,EMC,一般)
• 漏えい情報を用いた注入タイミングを制御可能な暗号モジュール外部からの故障注入メカニズムに関する検討(EMC一般,マイクロ波,電磁界解析)
• サイドチャネル認証に向けた基礎的考察
• 漏えい情報を用いた注入タイミングを制御可能な暗号モジュール外部からの故障注入メカニズムに関する検討(EMC一般,マイクロ波,電磁界解析)
• 漏えい情報を用いた注入タイミングを制御可能な暗号モジュール外部からの故障注入メカニズムに関する検討(EMC一般,マイクロ波,電磁界解析)
• 選択したデータセットを用いた暗号デバイスの電磁情報漏えいの効率的な安全性評価
• コネクタの高周波応答に基づく接触状態推定に関する基礎的検討
• コネクタの高周波応答に基づく接触状態推定に関する基礎的検討

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク