暗号機器に故障を引き起こす妨害電磁波の可視化(PCB,情報セキュリティ,EMC,一般)
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概要
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暗号機器に接続された電源ケーブルや通信ケーブルなどから電磁波を注入することによって計算誤りを引き起こし,誤った計算結果を解析することによって暗号機器の秘密鍵を取得する意図的な電磁妨害による故障注入攻撃が新たな脅威となっている.過去の検討により,注入する電磁波の周波数によって暗号モジュールでのフォールトの発生のしやすさに変化が生ずることが明らかとなっているが,印加した電磁波が基板上をどの様に伝搬し,暗号モジュールや他のモジュールを妨害しているのかという詳細なメカニズムについて十分に検討されていない.そこで,本稿ではメカニズム解明の基礎的検討として,妨害電磁波を暗号モジュールに注入し,その伝搬の様子を可視化することで,暗号機器に故障が発生する条件について検討を行う.
- 2013-04-05
著者
-
本間 尚文
東北大学大学院情報科学研究科
-
青木 孝文
東北大学大学院情報科学研究科
-
江原 康生
京都大学学術情報メディアセンター
-
曽根 秀昭
東北大学サイバーサイエンスセンター
-
水木 敬明
東北大学サイバーサイエンスセンター
-
林 優一
東北大学大学院工学研究科
-
Aoki T
The Department Of Computer And Mathematical Sciences Graduate School Of Information Sciences Tohoku
-
Aoki Takafumi
Graduate School Of Information Sciences Tohoku University:(present Address)presto Jst.
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