選択したデータセットを用いた暗号デバイスの電磁情報漏えいの効率的な安全性評価(<特集>多様化する電磁環境におけるEMC対策設計・評価技術論文)

概要

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暗号ハードウェアが暗号処理を行う際に生じる漏えい電磁波を用いて秘密鍵を特定する電磁波解析が脅威となっている.電磁波解析は暗号処理動作に伴い発生する漏えい電界・磁界強度の時間波形を測定し,統計処理によって秘密鍵情報を取得する手法であり,秘密鍵情報の解析に要する時間は,漏えい源となる電磁信号の分散と雑音の分散の比(SNR:signal-to-noise ratio)に依存する.そのため,漏えい電磁波を解析し,暗号ハードウェアの安全性評価を行う場合,外来雑音の影響を受けSNRが劣化する環境下では,安全性評価のための計測及び解析時間が増大する.こうした状況下において,評価時間の短縮化を図るためにはSNR劣化の抑制が必要となるが,外来雑音は測定対象のデバイスや測定環境中のあらゆるデバイスから生ずるため,制御することは困難である.一方,漏えい源となる電磁信号は処理するデータに依存して変化するため,漏えい電磁信号の分散が大きくなる処理データを選択することで,SNRの向上が見込まれる.そこで,本論文では,漏えい電磁波を用いた暗号ハードウェアの安全性評価の短時間化のために,漏えい電磁信号の分散が大きくなるデータセットを用いた評価手法を提案する.
2013-04-01