意図的な電磁妨害による暗号モジュールへの故障注入に関する検討
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概要
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- 2011-06-24
著者
-
本間 尚文
東北大学大学院情報科学研究科
-
青木 孝文
東北大学大学院情報科学研究科
-
曽根 秀昭
東北大学サイバーサイエンスセンター
-
菅原 健
東北大学大学院情報科学研究科
-
青木 孝文
東北大学
-
水木 敬明
東北大学サイバーサイエンスセンター
-
林 優一
東北大学大学院工学研究科
-
Aoki Takafumi
Graduate School Of Information Sciences Tohoku University:(present Address)presto Jst.
-
曽根 秀昭
東北大学
-
林 優一
東北大学
-
水木 敬明
東北大学
-
本間 尚文
東北大学
-
菅原 健
東北大学
-
本間 尚文
東北大
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