コネクタの高周波応答に基づく接触状態推定に関する基礎的検討
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
-
コネクタ接触点の分布がコモンモード電流に与える影響に関する考察 (環境電磁工学)
-
B-4-36 コネクタに接触障害を有する伝送路からのコモンモード放射に関する一検討(B-4. 環境電磁工学,一般セッション)
-
粒子ベースボリュームレンダリングによる大規模非構造格子データ向け分散可視化
-
震源データからの断層面推定支援システムの開発(安全安心シミュレーション)
-
タイルドディスプレイを用いた多地点遠隔コミュニケーションシステムに関する研究(一般セッション1)
-
タイルドディスプレイを用いた多地点遠隔コミュニケーションシステムに関する研究(一般セッション1,顔・ジェスチャの認識・理解)
-
少人数向けグループ学習環境を活用した研究リテラシー教育への取り組み(情報教育/一般)
-
没入型共有VR空間での遠隔協調作業における手書き注釈付与を用いた思考支援に関する実験的検証(グループインタラクション支援とグループウェア)
-
BI-1-6 伝送線路の接触不良によるEMC問題(BI-1.GHz帯におよぶ静電気・接点間放電による電磁妨害の脅威,依頼シンポジウム,ソサイエティ企画)
-
2000年題46回IEEE電気接点ホルム国際会議報告
-
情報機器の物理構造がコモンモード電流の周波数スペクトルに与える影響 (マイクロ波)
-
情報機器の物理構造がコモンモード電流の周波数スペクトルに与える影響 (環境電磁工学)
-
情報機器に接続された線路が機器からの電磁的情報漏洩に与える影響
-
情報機器に接続された線路が機器からの電磁的情報漏洩に与える影響(一般講演)
-
安全なギガビットネットワークシステムKUINS-IIIの構成とセキュリティ対策(ネットワーク管理)(インターネットアーキテクチャ技術論文)
-
画面操作用インタフェースによるPCを活用した授業の円滑化に関する研究(認知と学習・教育用インタフェース/一般)
-
C-5-16 コネクタ接触不良部における電流分布に関する考察(C-5.機構デバイス,一般セッション)
-
アース線の非接地が情報漏えいに与える影響の測定(研究速報)
-
B-4-64 暗号機器の基板サイズが機器からの電磁的情報漏洩に与える影響(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
-
暗号モジュールの電磁的な情報漏洩の解析
-
情報機器に接続された線路が機器からの電磁的情報漏洩に与える影響(一般講演)
-
BI-2-7 漏洩電磁界による情報システムセキュリティ低下の問題(BI-2.複合システムのノイズ問題を考える,ソサイエティ企画)
-
C-5-4 コネクタ接触不良部の高周波等価回路に関する基礎的検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
-
伝送路に接続されたコネクタにおける接触点が不要放射に与える影響(ショートノート(卒論・修論特集))
-
動接点開離時のアーク電力波形の開離速度依存性の測定(EMD関連,EMC/EMD/一般)
-
動接点開離時のアーク電力波形の開離速度依存性の測定(EMD関連,EMC/EMD/一般)
-
動接点開離時のアーク電力波形の開離速度依存性の測定
-
伝送路の周囲電磁界の測定における接触不良コネクタの位置の影響
-
CS-5-1 コネクタ接触障害を有する伝送路の長さの雑音放射への影響(CS-5.信号・電力伝送用デバイスの信頼性とその課題,シンポジウム)
-
情報機器の物理構造がコモンモード電流の周波数スペクトルに与える影響(マイクロ波,EMC,一般)
-
情報機器の物理構造がコモンモード電流の周波数スペクトルに与える影響(マイクロ波,EMC,一般)
-
コネクタ接触点の分布がコモンモード電流に与える影響に関する考察(若手研究者発表会)
-
CS-6-3 コネクタの緩みが放射電磁界に与える影響に関する基礎的検討(CS-6.光・高周波デバイスの接続技術,シンポジウムセッション)
-
グリッドコンピューティング環境における遠隔可視化処理の高速化に関する研究(可視化の高速化, テーマ: 可視化のためのCGおよびCG一般)
-
C-Cu接点の開離時放電に伴い発生するインパルス性ノイズの抑制法の提案(EMC対策技術)(最新のEMC技術論文特集)
-
タイルドディスプレイを用いた多地点遠隔コミュニケーションシステムに関する研究(一般セッション1,顔・ジェスチャの認識・理解)
-
L-007 周波数領域での暗号モジュールの電力解析(ネットワーク・セキュリティ,一般論文)
-
伝送路の周囲電磁界の測定における接触不良コネクタの位置の影響(PCB・線路・近傍界関連,放送EMC/一般)
-
B-4-47 電源線非接地が漏洩情報の取得性に与える影響に関する検討(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
-
遠隔地間における大規模データのリモート可視化の効率化に関する検討
-
遠隔地間における大規模データのリモート可視化の効率化に関する検討
-
Ag-Pd電気接点のアークによる電磁ノイズの熱的要因による低減に関する一実験
-
Ag-Pd電気接点のアーク放電により生じる電磁ノイズの熱的要因による低減方法
-
C-5-8 Ag-Pd電気接点のアークによる電磁ノイズと熱的条件の関係に関する一実験
-
C-Cu接点間の開離時のアーク電圧と電磁ノイズの時系列分析
-
C-Cu電極間アークのノイズ波形の電圧電流依存性の検討
-
C-Cu電極間のアークによる電磁ノイズ発生に関する一検討
-
C-Cu電極間のアークによる電磁ノイズ発生に関する一検討
-
C-Cu電極間のアークによる電磁ノイズ発生に関する一検討
-
緩みを有するコネクタの高周波等価回路に関する基礎的検討 (機構デバイス)
-
全方位型表示システム向け人物動作伝送システム(三次元形状, 画像の認識・理解論文)
-
IPTを用いた地震における岩盤破断現象の三次元可視化
-
VR 環境における PDA を用いたパラメータ操作と注釈付与が可能な可視化システムの実装と評価(マルチメディア処理)
-
協調VR環境のための音声通話ライブラリ(インタラクション,コミュニケーション)
-
Cu-C電気接点のアーク放電による電磁ノイズ発生と電極表面変化の関係に関する実験的検討
-
異種材料電極間のアークによる電磁ノイズと放電痕の関係に関する実験的検討
-
Cu-C電極間のアークによる電磁ノイズと放電痕の相関に関する実験的検討 : C(陽極)-Cu(陰極)の場合
-
Cu-C電極間のアークによる電磁ノイズと放電痕の相関に関する基礎検討
-
Cu-C電極間のアークによる電磁ノイズと放電痕の関係に関する実験的検討 : C(陽極)-Cu(陰極)の場合
-
Cu-C電極間の電磁ノイズと放電痕の関係に関する実験的検討
-
整流子モータの異種材料電極間アークと電磁ノイズの電流極性依存性に関する実験的検討
-
意図的な電磁妨害による暗号モジュールへの故障注入に関する検討 (環境電磁工学)
-
Agコンタクトのブリッジ現象とアーク放電現象の関係に関する一実験
-
C-5-6 コネクタの接触状態が伝送特性に与える影響に関する基礎的検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
-
実践講座 EMI/EMC測定の電磁気と回路(13)放電とノイズ(2)電気接点の放電ノイズと接点表面
-
SNRに基づいた電子機器からの情報取得性に関する基礎的検討
-
Ag-Pd接点のアークによる電磁ノイズと電極表面変化の相関に関する検討
-
情報機器に接続された線路が電磁情報漏洩に与える影響
-
緩みを有するコネクタの高周波等価回路に関する基礎的検討
-
B-4-58 暗号モジュールに対する意図的な電磁妨害に関する検討(B-4. 環境電磁工学,一般セッション)
-
B-4-59 オンチップRC発振器の周波数変動からの情報漏えいの解析(B-4. 環境電磁工学,一般セッション)
-
C-5-11 コネクタにおけるインダクタンスの増加が放射電磁雑音に与える影響(C-5.機構デバイス,一般セッション)
-
意図的な電磁妨害による暗号モジュールへの故障注入に関する検討
-
情報機器における放射電磁界分布と電磁的情報漏洩に関する基礎的検討
-
電気接点表面形状変化の三次元可視化
-
電気接点表面形状計測装置の高精度化に関する検討
-
情報機器を構成する基板および接続線路が電磁情報漏洩に与える影響
-
情報機器からの電磁情報漏洩における情報取得性の予測に関する検討 (環境電磁工学)
-
B-4-28 暗号機器上のサイドチャネル情報取得性分布図を用いた電磁波解析対策の評価(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
-
D-1-5 部分的漏えい鍵共有グラフにおける鍵選択に関する一考察(D-1.コンピュテーション,一般セッション)
-
C-5-1 コネクタ接触境界における電流路の変化とインダクタンス増加の関係(C-5.機構デバイス,一般セッション)
-
情報機器からの電磁情報漏洩における情報取得性の予測に関する検討
-
コンタクトの表面形状変化の可視化に関する基礎検討
-
コンタクトのアーク放電の種類と消耗の関係に関する一実験
-
周波数領域における電磁波解析の効率化に関する検討
-
情報機器を構成する基板および接続線路が電磁情報漏洩に与える影響
-
車載電子機器の相互接続部の接触不良が放射電磁波に与える影響
-
コネクタの緩みによる放射電磁雑音増大のメカニズムに関する一検討
-
暗号モジュールに対するサイドチャネル攻撃とその対策技術の研究動向
-
意図的な電磁妨害による暗号モジュールへの故障注入メカニズムに関する検討
-
コネクタの高周波応答に基づく接触状態推定に関する基礎的検討
-
選択したデータセットを用いた暗号デバイスの電磁情報漏えいの効率的な安全性評価(多様化する電磁環境におけるEMC対策設計・評価技術論文)
-
アース線非接地時に生ずる電源線上の共振発生メカニズムの検討(若手研究者発表会)
-
コネクタの高周波応答に基づく接触状態推定に関する基礎的検討(生体,EMC,一般)
-
コネクタの高周波応答に基づく接触状態推定に関する基礎的検討(生体,EMC,一般)
-
A-7-5 漏えい電磁情報を用いた任意の処理への非侵襲な故障注入手法(A-7.情報セキュリティ,一般セッション)
-
BI-1-1 安全・安心な情報通信社会を実現する電磁情報セキュリティ評価・対策技術(BI-1.安全・安心な情報通信会社を実現する電磁情報セキュリティ評価・対策技術,依頼シンポジウム,ソサエティ企画)
-
BI-1-6 意図的な電磁妨害による暗号デバイスからの情報漏えいの脅威とその対策(BI-1.安全・安心な情報通信会社を実現する電磁情報セキュリティ評価・対策技術,依頼シンポジウム,ソサエティ企画)
-
BI-1-9 実践的教育プログラムを通じた電磁情報セキュリティ人材の育成(BI-1.安全・安心な情報通信会社を実現する電磁情報セキュリティ評価・対策技術,依頼シンポジウム,ソサエティ企画)
-
暗号機器に故障を引き起こす妨害電磁波の可視化(PCB,情報セキュリティ,EMC,一般)
もっと見る
閉じる
スポンサーリンク