コネクタの高周波応答に基づく接触状態推定に関する基礎的検討(生体,EMC,一般)
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概要
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接触抵抗値は接触部品の状態を知る基本的な性能指標であり,他に機械的な接合部の観測にも応用されているが,多数の真実接触は接触抵抗の並列接続と見ることができ,良好な接触が十分にあれば低い値になり,接触抵抗値が必ずしも事実接触の状態を表さないと考えられる.一方,インダクタンス値は接点表面のラフネスや皮膜などによって変化すると考えられるため,インダクタンス値を測定することで,接触抵抗の変化が観測されない場合にも,電極表面の接触の劣化を検出できる可能性がある.本稿では,インダクタンス値を用いて電極表面の接触の劣化を検出するための基礎的な検討として,接触点分布の変化とそれに伴い変化するインダクタンス値の関係について検討する.
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2012-10-18
著者
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