超微速度開離時の接触電圧変動の測定
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概要
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熱平衡条件を満足しながら微速度で開離(約0.03μm/s)する接点の接触電圧を測定記録し、接点が完全に開離するまでの接点間の接触面の変化を接触電圧の変化から推定した。パラジュウム接点における観測結果によれば、時間とともに一定速度で開離動作をするときの接触電圧は初期には時間とともにほぼ直線的に増加する。この増加はいわゆるa-spot群の接触抵抗の変化と考えてこれを一つのa-spotの接触半径の変化としてその変化を材料の熱膨張量との関係で定性的な解釈を試みた。さらにダークブリッジの成長過程に発生するマイクロ放電がその成長に及ぼす影響についても定性的な考察を加えた。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-01-13
著者
-
井上 浩
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
曽根 秀昭
東北大学情報シナジーセンター
-
谷口 正成
東北文化学園大学
-
高木 相
東北大学:東北文化学園大学科学技術学部
-
高木 相
東北文化学園大学
-
鈴木 祥介
東北文化学園大学
-
石田 広幸
東北文化学園大学
-
井上 浩
秋田大:機構デバイス研究専門委員会
-
谷口 正成
東北文化学園大学科学技術学部応用情報工学科
-
谷口 正成
東北文化学園大 科学技術
-
井上 浩
秋田大学
-
石田 広幸
東北文化学園大 科学技術
-
鈴木 祥介
東北文化学園大学大学院
-
高木 相
東北大
-
石田 広幸
東北文化学園大学科学技術学部
-
石田 広幸
東北文化学園大学科学技術応用情報工学科
-
曽根 秀昭
東北大学
-
谷口 正成
東北文化学園大
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