CS-5-3 銀接点低速開離時に発生する短時間アークの持続電圧と継続時間の関係(CS-5.車載用機構デバイスの信頼性技術とその課題,シンポジウム)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-03-07
著者
-
萱野 良樹
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
井上 浩
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
宮永 和明
秋田大学工学資源学部
-
森 拓也
秋田大学工学資源学部
-
宮永 和明
秋田大学
-
井上 浩
秋田大学 大学院工学資源学研究科
-
萓野 良樹
秋田大学工学資源学研究部電気電子工学科
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