銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その2)
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概要
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電気接点の開閉時に発生するアーク放電は電磁ノイズの発生原因となる.発生した電磁ノイズは電子機器を妨害する可能性があるため,電気接点を設計する上でEMCは寿命,信頼性などと同様に重要な評価パラメータである.本論文では電磁ノイズ発生のメカニズムを明らかにするために,Ag,Ag_<85>CdOとAg_<88.3>SnO_2を電極材料としてGHz帯までの電流ノイズを計測,検討した.周波数特性の結果から,材料が異なる場合でも共振特性は回路のアドミタンスに依存することを明らかにした.また,時間-周波数領域特性の結果から,10MHz帯ではアーク放電の発生直後及び金属相からガス相へ移行するときにピークが発生し,100MHz以上ではアーク放電の発生直後のみでピークが発生することを明らかにした.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-04-14
著者
-
萱野 良樹
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
井上 浩
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
宮永 和明
秋田大学工学資源学部
-
中村 達也
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
宮永 和明
秋田大学
-
萓野 良樹
秋田大学工学資源学研究部電気電子工学科
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