銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その3)(EMD関連,EMC/EMD/一般)
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概要
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電気接点の開閉時に発生するアーク放電は電磁ノイズの発生原因となる.発生した電磁ノイズは電子機器を妨害する可能性があるため,電気接点を設計する上でEMCは寿命,信頼牲などと同様に重要な評価パラメータである.本論文では電磁ノイズ発生のメカニズムを明らかにするために,Agを電極材料としてブリッジ,アーク放電で発生するGHz帯までの接点間電圧,電流ノイズを計測,検討した.その結果,各現象において1GHzまでの広帯域な電圧・電流ノイズスペクトルが観測され,GHz帯での高放射効率による高レベルな電磁ノイズの放射が明らかとなった.また,アーク放電の発生・消弧時だけではなくブリッジ現象において接触点が融点に達したときにも大きな電磁ノイズが発生することを明らかにした.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-07-21
著者
-
井上 浩
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
宮永 和明
秋田大学工学資源学部
-
森 拓也
秋田大学工学資源学部
-
中村 達也
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
萓野 良樹
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
宮永 和明
秋田大学
-
萓野 良樹
秋田大学工学資源学研究部電気電子工学科
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