C-5-2 低速閉成時の接触電圧の電流依存性の測定(C-5.機構デバイス,一般セッション)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-09-02
著者
-
萱野 良樹
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
井上 浩
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
宮永 和明
秋田大学工学資源学部
-
高木 相
東北大学
-
萓野 良樹
秋田大学
-
井上 浩
秋田大:機構デバイス研究専門委員会
-
高木 相
東北大
-
萱野 良樹
秋田大学
-
高木 相
東北大学 工学部 通信工学科
-
宮永 和明
秋田大学
-
高木 相
東北大学工学部
-
井上 浩
秋田大学 大学院工学資源学研究科
-
萓野 良樹
秋田大学工学資源学研究部電気電子工学科
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