萱野 良樹 | 秋田大学工学資源学部電気電子工学科

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概要

• 同名の論文著者
• 秋田大学工学資源学部電気電子工学科の論文著者

関連著者

• 萱野 良樹

  秋田大学工学資源学部電気電子工学科

• 井上 浩

  秋田大学工学資源学部電気電子工学科

• 萓野 良樹

  秋田大学工学資源学研究部電気電子工学科

• 井上 浩

  秋田大学 大学院工学資源学研究科

• 萓野 良樹

  秋田大学

• 萱野 良樹

  秋田大学

• 宮永 和明

  秋田大学工学資源学部

• 宮永 和明

  秋田大学

• 井上 浩

  秋田大学

• 井干 浩

  秋田大学鉱山学部電気電子工学科

• 高木 相

  東北大学

• 高木 相

  東北大

• 高木 相

  東北大学 工学部 通信工学科

• 高木 相

  東北大学工学部

• 井上 浩

  秋田大:機構デバイス研究専門委員会

• 宮田 翔吾

  秋田大学工学資源学部

• 柳澤 良介

  秋田大学工学資源学部電気電子工学科

• 林 優一

  東北大学大学院情報科学研究科

• 曽根 秀昭

  東北大学情報シナジーセンター

• 駒木根 隆士

  秋田県産業技術総合研究センター

• 中村 達也

  秋田大学工学資源学部電気電子工学科

• 曽根 秀昭

  東北大学サイバーサイエンスセンター

• 林 優一

  東北大学大学院工学研究科

• 駒木根 隆士

  秋田県産業技術総合研究センター高度技術研究所

• 曽根 秀昭

  東北大学

• 柳澤 良介

  秋田大学工学資源学研究部電気電子工学科

• 駒木根 隆士

  秋田県産業技術センター

• 三浦 光

  秋田大学工学資源学部電気電子工学科

• 丹 健二

  秋田県産業技術総合研究センター

• 山川 清志

  秋田県産業技術総合研究センター

• 水木 敬明

  東北大学情報シナジーセンター

• 田中 元志

  秋田大学工学資源学部

• 田中 元志

  秋田大学 工学資源学部

• 山川 清志

  秋田県産業技術総合研究センタ

• 水木 敬明

  東北大学サイバーサイエンスセンター

• 林 優一

  東北大学

• 水木 敬明

  東北大学

• 山川 清志

  秋田県産業技術セ

• 塙 真吾

  秋田大学工学資源学部

• 小島 祐一

  秋田大学工学資源学部

• 勝間田 和輝

  秋田大学工学資源学部

• 森 拓也

  秋田大学工学資源学部

• 佐々木 雄紀

  秋田大学工学資源学部電気電子工学科

• 丹 建二

  秋田県産業技術総合研究センター

• 高山 司

  秋田大学工学資源学部

• 塙 真吾

  秋田大学工学資源学部電気電子工学科

• 小林 吾生

  秋田大学工学資源学部電気電子工学科

• 勝間田 和輝

  秋田大学工学資源学部電気電子工学科

• 宮永 和明

  秋田大学工学資源学部電気電子工学科

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著作論文

• ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作(放送/一般)
• C-5-2 低速閉成時の接触電圧の電流依存性の測定(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• C-5-1 銀接点低速開離時に発生する短時間アークの開離速度依存性(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• 接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(その2) : 銀パラジウムの含有率と定常接触電圧到達時間の関係(放電・回路/一般)
• B-4-36 コネクタに接触障害を有する伝送路からのコモンモード放射に関する一検討(B-4. 環境電磁工学,一般セッション)
• B-4-31 ノイズ抑制シートを置いた筐体内PCBからの電磁放射の実験的検討(B-4. 環境電磁工学,一般セッション)
• 外部磁界印加時の短時間アーク電流ノイズ計測(ショートノート(卒論・修論特集))
• B-4-47 PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(その4) : 内部ノイズ源の配置位置の電磁放射への影響(B-4.環境電磁工学,一般講演)
• C-5-7 銀系接点低速開離時に発生するブリッジやアーク継続時間への磁界印加の影響の一検討(C-5.機構デバイス,一般講演)
• PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(その3)(EMC 一般)
• B-4-48 PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(その2)(B-4.環境電磁工学,一般講演)
• CS-5-3 銀接点低速開離時に発生する短時間アークの持続電圧と継続時間の関係(CS-5.車載用機構デバイスの信頼性技術とその課題,シンポジウム)
• 磁気インピーダンス素子を用いたキャリア型磁界プローブの性能向上に関する検討(卒論・修論特集)
• 銀パラジウム接点の低速開離時電極内熱伝導に関する検討(卒論・修論特集)
• 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その2)
• 高周波キャリア型磁界プローブによるGHz磁界検出(その2)(プローブ関連,EMC対策/一般)
• 銀接点低速開離時アークによるGHz帯までの電磁ノイズ計測(「ショートノート」(卒論・修論特集))
• C-5-3 銀パラジウムのブリッジとアーク放電の積算電力と接点温度の関係(C-5.機構デバイス,エレクトロニクス2)
• C-5-15 電極熱伝導率とホルダの切断時ブリッジへの影響に関する一検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• BI-2-2 給電ケーブルで駆動されるPCBからの不要電磁波放射(BI-2.複合システムのノイズ問題を考える,ソサイエティ企画)
• C-5-4 コネクタ接触不良部の高周波等価回路に関する基礎的検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• 低速開離時接点の熱伝導のブリッジへの寄与に関する検討
• スロットを周期的に形成した電源面を持つストリップライン構造からの不要電磁放射(ショートノート(卒論・修論発表会))
• 銀系接点低速開離時の短時間アークに関する一検討
• C-5-6 電気接点開離時の開離速度とブリッジ切断長の関係に関する検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• 広帯域周波数応用のためのリング発振器を用いたVCOに関する一検討
• C-5-2 低速開離AgPd接点のPd含有率とブリッジの関係に関する検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作 (その2)
• CS-2-7 異種材料接点対低速開離時のアーク継続時間に関する一検討(CS-2.接触・接続技術および電気接点現象の課題と展望,シンポジウムセッション)
• C-5-6 コネクタの接触状態が伝送特性に与える影響に関する基礎的検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• B-4-66 高周波キャリア型磁界プローブによる高周波磁界検出(B-4.環境電磁工学,通信1)
• 差動励振モードによるF-SIR構造の負の群遅延特性に関する検討(放送,EMC,一般)
• PCBに接続されたセミリジッドケーブルの同相電流の一シミュレーション(その2)
• PCBに接続されたセミリジッドケーブルの同相電流の一シミュレーション
• 接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(その2) : 銀パラジウムの含有率と定常接触電圧到達時間の関係
• CS-5-5 カドミウム添加の銀系接点材料における開離時アークと接点温度(CS-5. 接触・接続技術の課題と今後の展望, エレクトロニクス2)
• 銀系接点材料におけるブリッジとアークによる熱現象(「ショートノート」(卒業・修論特集))

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