銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その4) : ブリッジと短時間アーク波形の特徴抽出
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概要
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電気接点の開閉時に発生するアーク放電は電磁ノイズの発生原因となる.発生した電磁ノイズは電子機器を妨害する可能性があるため,電気接点を設計する上でElectromagnetic compatibility(EMC)は寿命,信頼性などと同様に重要な評価パラメータである.本論文では,銀接点低速開離時に発生するGHz帯までの電磁ノイズの特性を開離現象と対応させて明らかにするために,ノイズの発生領域として1つめの短時間アーク放電に注目し,ブリッジと短時間アーク波形の特徴抽出を試みた.その結果,銀接点低速開離時に発生する短時間アークは,その持続電圧が高くなるにつれて継続時間が長くなることを明らかにした.また,短時間アーク放電に至る直前のブリッジ波形の振幅確率密度分布(APD)から,融点付近の時間が短い場合には持続電圧が低く,継続時間が短くなる可能性が示唆された.
- 2007-04-13
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