遮断周波数電圧可変型低域通過フィルタの開発研究(卒論・修論特集(ショートノート))
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
広帯域周波数可変発振器(広帯域電圧制御発振器)を利用して,新しい信号処理分野を拓くことが可能である.その動作のためにVCOの出力の歪みは抑制される必要がある.ワンチップVCOを用いて30MHz〜1GHzの広帯域は発振を必要とするEMC診断用発振器の実現を目的とし,VCOの発振周波数に対応した遮断周波数電圧可変型低域通過フィルタ(LPF)の設計を試みた.LPFは,MOSトランジスタと静電容量で構成した.MOSトランジスタのドレイン-ソース間抵抗を可変抵抗として,回路構成とMOSトランジスタの寄生容量が周波数特性にどのような影響を与えるかシミュレーションによって検討した結果,LPFを高次にすることで周波数特性を改善できる可能性を示した.EMC用途に対するワンチップシステムの基本特性を明らかにした.
- 2012-02-24
著者
-
萓野 良樹
秋田大学
-
萱野 良樹
秋田大学
-
小林 吾生
秋田大学工学資源学部電気電子工学科
-
井上 浩
秋田大学大学院工学資源学研究科
-
井上 浩
秋田大学 大学院工学資源学研究科
-
萓野 良樹
秋田大学工学資源学研究部電気電子工学科
-
井干 浩
秋田大学鉱山学部電気電子工学科
-
小林 吾生
秋田大学大学院工学資源学研究科電気電子工学専攻
-
萱野 良樹
秋田大学大学院工学資源学研究科電気電子工学専攻
-
萱野 良樹
秋田大学大学院工学資源学研究科
関連論文
- ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作(放送/一般)
- C-5-2 低速閉成時の接触電圧の電流依存性の測定(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-1 銀接点低速開離時に発生する短時間アークの開離速度依存性(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(その2) : 銀パラジウムの含有率と定常接触電圧到達時間の関係(放電・回路/一般)
- B-4-36 コネクタに接触障害を有する伝送路からのコモンモード放射に関する一検討(B-4. 環境電磁工学,一般セッション)
- B-4-31 ノイズ抑制シートを置いた筐体内PCBからの電磁放射の実験的検討(B-4. 環境電磁工学,一般セッション)
- 外部磁界印加時の短時間アーク電流ノイズ計測(ショートノート(卒論・修論特集))
- B-4-47 PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(その4) : 内部ノイズ源の配置位置の電磁放射への影響(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- C-5-7 銀系接点低速開離時に発生するブリッジやアーク継続時間への磁界印加の影響の一検討(C-5.機構デバイス,一般講演)
- PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(その3)(EMC 一般)
- B-4-48 PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(その2)(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- CS-5-3 銀接点低速開離時に発生する短時間アークの持続電圧と継続時間の関係(CS-5.車載用機構デバイスの信頼性技術とその課題,シンポジウム)
- 磁気インピーダンス素子を用いたキャリア型磁界プローブの性能向上に関する検討(卒論・修論特集)
- 銀パラジウム接点の低速開離時電極内熱伝導に関する検討(卒論・修論特集)
- B-4-79 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズの電流依存性(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- CS-5-3 電源電力一定時の開離時電圧と接点温度上昇の関係の実験的検討(CS-5.信号・電力伝送用デバイスの信頼性とその課題,シンポジウム)
- C-5-3 パラジウム接点の接点温度上昇と開離速度の関係(C-5.機構デバイス,一般講演)
- 食品画像提示による好み評価時の事象関連電位計測(BCI/BMIとその周辺)
- 高周波電圧制御発振器の開発とその応用(マイクロ波/一般)
- BI-1-5 電気接点アーク現象におけるEMC 問題(BI-1.GHz帯におよぶ静電気・接点間放電による電磁妨害の脅威,依頼シンポジウム,ソサイエティ企画)
- BI-1-6 伝送線路の接触不良によるEMC問題(BI-1.GHz帯におよぶ静電気・接点間放電による電磁妨害の脅威,依頼シンポジウム,ソサイエティ企画)
- C-1-21 FDTD法と回路解析手法の連携による複数基板間を跨ぐ信号線の数値解析(C-1. 電磁界理論,一般セッション)
- 事象関連電位による画像品質評価のための課題に関する実験的検討(その2)
- ERPを指標とした食品評価に関する実験的検討--寿司画像を用いた好み評価
- 事象関連電位による画像品質評価のための課題に関する実験的検討
- ノイズによるテレビ画像劣化の主観評価と事象関連電位P300の関連に関する一検討(ヒューマンインフォメーション)
- 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その5) : ノイズ波形の開離回数依存性(放電EMC/一般)
- PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(サブミリ波技術/マイクロ波電力応用/一般)
- 圧電素子による横臥位体動検出の一検討
- A-10-13 倍音に着目した和音の音高認識に関する一検討(A-10. 応用音響,一般セッション)
- B-4-75 PCB上の接地導体板による近傍磁界変化の一検討(その2)(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- C-5-15 電極熱伝導率とホルダの切断時ブリッジへの影響に関する一検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 銀接点低速開離時電圧波形の特徴抽出に関する検討(放電・EMC/一般)
- D-7-11 瓶を例とした食品の外観評価時のERP計測(D-7.MEとバイオサイバネティックスB,一般セッション)
- ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作(その2)(一般講演)
- ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作(その2)(一般講演)
- BI-2-2 給電ケーブルで駆動されるPCBからの不要電磁波放射(BI-2.複合システムのノイズ問題を考える,ソサイエティ企画)
- C-5-4 コネクタ接触不良部の高周波等価回路に関する基礎的検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その5) : ノイズ波形の開離回数依存性(放電EMC/一般)
- 低速開離時接点の熱伝導のブリッジへの寄与に関する検討
- スロットを周期的に形成した電源面を持つストリップライン構造からの不要電磁放射(ショートノート(卒論・修論発表会))
- 銀系接点低速開離時の短時間アークに関する一検討
- 散乱波法による誘電率測定におけるキャリブレーション手法(マイクロ波,EMC,一般)
- 散乱波法による誘電率測定におけるキャリブレーション手法(マイクロ波,EMC,一般)
- C-5-6 電気接点開離時の開離速度とブリッジ切断長の関係に関する検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- A-215 連続波信号を用いた液体の音速測定法 : その.2 音波伝搬路長-Sパラメータ特性による測定(A-11. 超音波,一般講演)
- 接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(その2) : 銀パラジウムの含有率と定常接触電圧到達時間の関係(放電・回路/一般)
- 広帯域周波数応用のためのリング発振器を用いたVCOに関する一検討
- 情報機器筐体のEMC設計
- 銀接点低速開離時電圧波形の特徴抽出に関する検討(放電・EMC/一般)
- C-5-2 低速開離AgPd接点のPd含有率とブリッジの関係に関する検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- CS-7-3 アルミニウム接点の開離速度がブリッジ生成に及ぼす影響に関する一検討(CS-7.接触・接続技術の課題と今後の展望,シンポジウムセッション)
- C-5-7 接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
- 低速度開離接点の熱解析(その3) : 電極の温度上昇に及ぼすホルダー構造の影響(その3)
- 第20回ICEC(接点国際会議)報告
- 水中にある小型発振回路の近傍磁界計測
- ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作 (その2)
- ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作(放送/一般)
- ICチップ内配線の伝送及び電磁結合特性の一検討(マイクロ波/一般)
- ICチップ内配線の伝送及び電磁結合特性の一検討(マイクロ波/一般)
- 散乱波を用いた高周波複素誘電率の推定
- B-4-16 散乱波法における五次高周波を用いた誘電損失の推定(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- B-4-17 3アンテナ法による水中用受信アンテナ係数の測定(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- B-4-15 VHF帯における集中定数容量法による液体の誘電率測定(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- 超音波照射による媒質内温度上昇からの媒質定数の推定のための基礎検討
- B-4-37 多層構造による差動線路のクロストーク抑制の解析(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- 構造による差動線路のクロストーク抑制の一検討(卒論・修論特集)
- B-4-53 水中用小型アンテナの放射特性測定に関する一検討(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- 20.筋ジストロフィー患者の母指による指示動作とその筋電図の計測(平成14年度東北支部大会抄録)
- 相互接続した表面マイクロストリップ線路構造からの電磁放射予測のための等価回路モデル(通信/一般)
- 表面マイクロストリップ線路構造からのCM放射予測のための等価回路モデル(マイクロ波/一般)
- 高周波電圧制御発振器の開発とその応用(マイクロ波/一般)
- C-5-1 ハンダマウントを含む伝送線路の高速伝送特性と放射磁界分布のモデル実験(C-5.機構デバイス)
- CS-2-7 異種材料接点対低速開離時のアーク継続時間に関する一検討(CS-2.接触・接続技術および電気接点現象の課題と展望,シンポジウムセッション)
- C-5-6 コネクタの接触状態が伝送特性に与える影響に関する基礎的検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 差動励振モードによるF-SIR構造の負の群遅延特性に関する検討(放送,EMC,一般)
- B-4-66 高周波キャリア型磁界プローブによる高周波磁界検出(B-4.環境電磁工学,通信1)
- 差動励振モードによるF-SIR構造の負の群遅延特性に関する検討(放送,EMC,一般)
- D-4-16 単文内自立語間共起の相互情報量を用いた文書自動分類
- 非対称な電気接点対の寿命と信頼性に関する一検討
- 100MHz帯における水の複素誘電率と伝搬定数
- VHF帯の液体の誘電率の簡易計測
- C-5-7 銀とパラジウムの異種材料接点対の低速開離時アークに関する検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- ERPによる食品外観評価のための課題に関する実験的検討(知的マルチメディアシステム,一般)
- 遮断周波数電圧可変型低域通過フィルタの開発研究 (機構デバイス)
- ホルダ温度が低速開離接点時のブリッジとアークに与える影響 (環境電磁工学)
- ホルダ温度が低速開離接点時のブリッジとアークに与える影響 (放送技術)
- 低位相雑音PLLのための位相比較器の検出感度に関する一検討 (環境電磁工学)
- 低位相雑音PLLのための位相比較器の検出感度に関する一検討 (放送技術)
- CS-3-2 外部磁界印加時の低速開離アーク柱の観測(CS-3.コネクタおよび電気接点関連技術の最新動向-直流から高周波まで-,シンポジウムセッション)
- 瓶を例とした食品の外観の好み評価時のERP計測
- 接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(その2) : 銀パラジウムの含有率と定常接触電圧到達時間の関係
- 遮断周波数電圧可変型低域通過フィルタの開発研究(卒論・修論特集(ショートノート))
- 低位相雑音PLLのための位相比較器の検出感度に関する一検討(放送,EMC,一般)
- プリント回路基板と電気接点周辺のEMC問題の研究(放送,EMC,一般)
- ホルダ温度が低速開離接点時のブリッジとアークに与える影響(放送,EMC,一般)
- プリント回路基板周辺のEMC問題(多様化する電磁環境におけるEMC対策設計・評価技術論文)
- B-4-50 差動伝送線路のシールド実装効果に関する一検討(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- B-4-53 埋込型F-SIR構造による負の群遅延発現帯域の低損失化に関する一検討(B-4.環境電磁工学)
- 非対称な差動伝送線路へのシールド実装効果に関する一検討(EMC一般,マイクロ波,電磁界解析)