スペックルパターンの変動を利用した光ファイバへの荷重印加検出システムに関する研究 (機構デバイス)

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概要

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• 2012-03-02

著者

• 長谷川 誠

  千歳科学技術大学

• 長谷川 誠

  千歳科技大

• 長谷川 誠

  千歳科学技術大学光科学部光応用システム学科

• 川原 宗貴

  千歳科学技術大学総合光科学部

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