電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
電磁コンタクタを10万回まで連続開閉した実験結果について報告する。実験は、電源電圧の変化がアーク継続時間、接触抵抗、アークエネルギー、および電極質量の消耗・転移にどのような影響を与えるのかを明らかにする目的で行った。電源電圧は、100V〜160Vの間で変化させ、負荷電流は5A一定とした。その結果、アーク継続時間は電源電圧とともに増加した。さらに、固定接点陰極の消耗量は積算アークエネルギーに比例することが明らかになった。
- 2010-05-14
著者
-
吉田 清
日本工業大学
-
澤 孝一郎
慶応義塾大
-
鈴木 健司
富士電機機器制御(株)
-
渡邊 勝昭
富士電機機器制御(株)
-
代島 英樹
富士電機機器制御(株)
-
澤 孝一郎
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
澤 孝一郎
慶応義塾大学:日本工業大学
関連論文
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(その5)(トライボロジー/一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その7)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(その4)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その6)(材料デバイスサマーミーティング)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その5)(放電・EMC/一般)
- 第24回電気接点に関する国際会議ICEC2008(フランス)概要報告(トライボロジ・一般)
- リレーに搭載されたコンタクトの連続開閉時のアーク継続時間と接触抵抗の計測(ショートノート(卒論・修論特集))
- 電気二重層キャパシタ(NSC)を搭載した小型電気自動車について : 直並列接続したキャパシタの充放電特性
- 3次元加振機構による電気接点の劣化現象 : 3D加振機構の加振特性(トライボロジ・一般)
- 周囲雰囲気がコンタクト開離時アークのガス相移行に与える影響について(放電・EMC/一般)
- SC-3-1 リレー搭載コンタクトのガス相移行と接触抵抗との関連
- リレー搭載コンタクトにおける連続開閉時のアーク継続時間と接触抵抗との関連について
- C-5-2 Pdコンタクト開離時アークのガス相移行とブリッジ現象との関連について : 閉成時電流の増加時と減少時の比較
- 銀系コンタクト開離時アークの継続時間と接触抵抗の自動計測
- C-5-7 2台の分光器を用いた開離時アークの分光測定 : AgCdOコンタクトのスペクトル強度
- Pdコンタクト開離時アークのガス相移行とブリッジ現象との関連について
- C-5-10 AgCdOコンタクト開離時アークのガス相移行とブリッジ現象との関連について
- Pdコンタクト開離時アークのガス相移行境界について : スペクトル強度との関連
- C-5-3 Agコンタクト開離時アークのガス相移行とブリッジ現象との関連について
- Agコンタクト開離時アークのガス相移行と再ブリッジ発生との関連について
- コンタクト開離時アーク放電の分光測定 : Agアークの平均スペクトル強度の測定
- 銀系コンタクト開離時アークのガス相移行について : 開離速度の影響
- コンタクト開離時アーク放電の分光測定(その7) : Pdアークの温度測定
- Wコンタクト開離時アークのガス相移行と平均スペクトル強度との関連について
- D-12-115 自走ロボットのためのFG視覚センサ
- C-5-2 開離時アークのガス相移行と接触抵抗との関連について : WとPdコンタクトの実験結果
- コンタクト開離時アーク放電の分光測定(その6) : Pdアークの平均スペクトル強度の検討
- 開離時アークのガス相移行と接触抵抗との関連について : AgとAgCd0コンタクトの比較
- コンタクト開離時アークのガス相移行点の自動検出とその評価
- Agコンタクト開離時アークの分光測定 : Agイオンの平均スペクトル強度とガス相移行について
- C-5-5 YBaCuOを用いた接点のクエンチング特性に関する研究(C-5.機構デバイス,一般講演)
- スイッチングアークと接触信頼性の動向
- C-5-14 小形リレーに搭載されたコンタクトの連続開閉実験 その3 : ガス相移行率と接触抵抗の変化(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 摺動機構のモデリング(1)(材料デバイスサマーミーティング)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(12)(材料デバイスサマーミーティング)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 摺動機構のモデリング(1)(材料デバイスサマーミーティング)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(12)(材料デバイスサマーミーティング)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 摺動機構のモデリング(1)(材料デバイスサマーミーティング)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(12)(材料デバイスサマーミーティング)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その7)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その7)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その7)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その11)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その10)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その5)(放電・EMC/一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(その8)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(その7)(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(その7)(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(9)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(9)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(9)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(9)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その13)(放電,実装,EMC,一般)
- C-5-1 小形リレーに搭載されたコンタクトの連続開閉実験その2 : ガス相移行率と接触抵抗の変化(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 周囲雰囲気がコンタクト開離時アークのガス相移行に与える影響について(放電・EMC/一般)
- CS-7-2 コンタクト開離時のアーク継続時間とガス相移行への周囲気体の影響(CS-7.接触・接続技術の課題と今後の展望,シンポジウムセッション)
- 電気二重層キャパシタを搭載した小型電気自動車の開発--直列および並列に接続したキャパシタの充放電特性 ([日本工業大学]教育活動特集号) -- (環境分野研究奨励助成金研究)
- コンタクト開離時アークの金属と気体分子スペクトルの分光測定 : 銀と銀合金コンタクトのスペクトル強度
- C-5-1 Ag合金コンタクト材料の開離時アーク放電の分光測定 : 金属と周囲気体スペクトルの比較(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
- 電気二重層キャパシタの応用に関する研究 : 充放電特性の自動計測システムの製作(ショートノート(卒論・修論特集))
- キャパシタ蓄電システム車載の電気自動車 ([日本工業大学]教育活動特集号) -- (環境分野研究奨励助成金研究)
- Ag系コンタクト開離時のアーク継続時間とガス相移行率に対する電源電圧と負荷インダクタンスの影響(卒論・修論特集)
- コンタクト開離時のアーク継続時間とガス相移行率に対する電源電圧の影響(「ショートノート」(卒論・修論特集))
- コンタクト開離時アークのガス相移行とギャップ長との関連について
- Ag系コンタクト開離時アークの継続時間とガス相移行に関する一実験 : 電源電圧の影響(回路EMC/一般)
- Ag系コンタクト開離時アークの継続時間とガス相移行に関する一実験 : 電源電圧の影響(回路EMC/一般)
- 2台の分光器によるアーク光の分光測定 : Wアークの平均スペクトル強度
- 2台の分光器によるアーク光の分光測定 : AgCdO_のスペクトル強度変化
- 2台の分光器によるアーク光の分光測定 : Wアークのスペクトル強度変化
- 2台の分光器によるアーク光の分光測定 : 低速度開離時のAgアーク放電
- 2台の分光器によるアーク光の分光測定 : AgIIとAgIスペクトルの強度変化
- 電磁コンタクタ開閉時のアーク継続時間と電極質量の変化に対する電圧の影響(ショートノート(卒論・修論発表会))
- C-5-4 開離時アークの継続時間とガス相移行への周囲気体の影響(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- コンタクト開離時アーク放電の分光測定(その5) : Wアークの平均スペクトル強度の検討
- 銀系コンタクト開離時アークのガス相移行について : Agと AgSnO_2 コンタクトの比較
- 銀系コンタクト開離時アークのガス相移行について : 負荷インダクタンスの影響
- 銀系コンタクト開離時アークのガス相移行について(その1)
- コンタクト開離時アーク放電の分光測定(その4):Pdアークの2波長同時測定
- ニューラルネットワークによる二次元パターンの位置検出と識別
- Agコンタクト開離時アークのメタリック相継続時間とガス相移行境界との関連について
- Agコンタクト開離時アークのメタリック相継続時間について
- Wコンタクト開離時アークのガス相移行境界に対する気圧の影響
- CS-2-1 直流電磁コンタクタのアーク継続時間に対する電圧と電流の影響(CS-2.接触・接続技術および電気接点現象の課題と展望,シンポジウムセッション)
- C-5-3 銀系コンタクトのガス相移行に対する電源電圧の影響 : コンタクト表面の損傷と電圧との関連(C-5.機構デバイス,一般講演)
- 開離時のみにアークを発生させた場合の電磁コンタクタの諸特性に対する電圧の影響(卒論・修論特集(ショートノート))
- 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 : 開離時のみにアークを発生させた場合の諸特性
- 直流電磁コンタクタ開離時のアーク電圧波形と電流波形 : 電源電圧と電流値のアーク放電への影響(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- 直流電磁コンタクタ開離時のアーク電圧波形と電流波形 : 電源電圧と電流値のアーク放電への影響(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- 直流電磁コンタクタ開離時のアーク電圧波形と電流波形 : 電源電圧と電流値のアーク放電への影響(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- 直流電磁コンタクタ開離時のアーク電圧波形と電流波形 : 電源電圧と電流値のアーク放電への影響(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 : 閉成時のみにアークを発生させた場合の諸特性 (機構デバイス)
- CS-3-1 閉成時のみにアークが発生する場合の電磁コンタクタの諸特性(CS-3.コネクタおよび電気接点関連技術の最新動向-直流から高周波まで-,シンポジウムセッション)
- 閉成時のみにアークを発生させた場合の電磁コンタクタの諸特性に対する電圧の影響(卒論・修論特集(ショートノート))
- 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 : 閉成時のみにアークを発生させた場合の諸特性
- C-5-12 閉成時アークのみの場合の電極質量変化とアークエネルギーの関連(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
- 電磁コンダクタにおけるCu系接点材料の諸特性(卒論・修論特集(ショートノート))
- CS-2-5 Cu接点使用時の電磁コンタクタの諸特性に関する実験(CS-2.電気接点による接続・遮断技術の最新動向)
- 電磁コンタクタにおけるCu系接点材料の諸特性 : CuとCuCr接点のアーク継続時間と接触抵抗
- 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 : 閉成時のみにアークを発生させた場合の諸特性