ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その6)(材料デバイスサマーミーティング)
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概要
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著者らは,鉛直方向のハンマリング加振機構及び摺動接触機構によって電気接点における微小振動が接触抵抗に与える影響を検討した.ハンマリング加振機構において,加振加速度を150G及び400Gとした.さらに,ピン間の摺動力を0.3Nおよび2.0Nとした.150G&2.0Nで約4200万回の実験を行い抵抗値が約200Ωとなった.150G&0.3Nで約4400万回の実験を行い抵抗値が600-1000Ωとなった.400G&2.0Nで約2200万回の実験を行い抵抗値が約200Ωとなっている.摺動接触機構において,摺動力2.0N及び0.3Nの条件でそれぞれ約2400万回及び2600万回の実験を行い,抵抗値がそれぞれ50-400Ω,200-600Ωとなった.150G&2.0Nの場合が操作回数最多で摺動距離最小であると指摘できた.接触抵抗値変動に対してFretting Corrosionモデル・Sliding Contactモデルを適用し,微小振動が接点に与える影響について考察できる可能性が示唆された.
- 2009-06-12
著者
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澤 孝一郎
慶応義塾大
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和田 真一
TMCシステム
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園田 健人
TMCシステム
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越田 圭治
TMCシステム
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菊地 光男
TMCシステム
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久保田 洋彰
TMCシステム
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澤 孝一郎
慶応義塾大学:日本工業大学
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越田 圭治
TMCシステム株式会社
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