ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その2)(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
著者らは,電気接点に実用的振動を与えうる加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討した.本機構を用いて,総加振回数が3000万回から4000万回の加振実験を行った.加振開始後,一定の期間を経ると,接触抵抗値が上昇し約200Ωとなった.この傾向は実験終了まで持続した.比較として,電気接点に微小摺動を与える摺動機構による,総摺動回数が約1400万回の摺動実験を行った.摺動後20万回後に接触抵抗が上昇しその後,約200Ωとなった.2つの機構は,その操作方法及び操作回数に相違があるものの,接触抵抗値の変動現象には類似点が見られた.これらの接触抵抗の変動に対してfretting Corrosionモデルを適用し検討することで,本加振機構及び摺動の微小振動が接触抵抗に与える影響についてより現実的に考察できる可能性が示唆された.
- 2008-08-21
著者
関連論文
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象--加振機構のモデリング(9) (レーザ・量子エレクトロニクス)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象--加振機構のモデリング(9) (光エレクトロニクス)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象--加振機構のモデリング(9) (電子部品・材料)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象--加振機構のモデリング(9) (機構デバイス)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(その5)(トライボロジー/一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その7)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(その4)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その6)(材料デバイスサマーミーティング)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その5)(放電・EMC/一般)
- 3次元加振機構による電気接点の劣化現象 : 3D加振機構の加振特性(トライボロジ・一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象--接触抵抗について(13) (機構デバイス)
- C-5-5 YBaCuOを用いた接点のクエンチング特性に関する研究(C-5.機構デバイス,一般講演)
- スイッチングアークと接触信頼性の動向
- C-5-9 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象(第14報) : モデリング(その6)(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-8 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象(第13報) : モデリング(その5)(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 摺動機構のモデリング(1)(材料デバイスサマーミーティング)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(12)(材料デバイスサマーミーティング)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 摺動機構のモデリング(1)(材料デバイスサマーミーティング)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(12)(材料デバイスサマーミーティング)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 摺動機構のモデリング(1)(材料デバイスサマーミーティング)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(12)(材料デバイスサマーミーティング)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その7)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その7)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その7)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その11)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その10)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その5)(放電・EMC/一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(その8)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(その7)(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(その7)(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(9)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(9)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(9)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(9)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その13)(放電,実装,EMC,一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その13)(放電,実装,EMC,一般)
- C-5-10 地震防災用リレーの信頼性(C-5.機構デバイス,一般講演)
- 地震防災用リレーの表面解析(「ショートノート」(卒論・修論特集))
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(13)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その6)(材料デバイスサマーミーティング)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その6)(材料デバイスサマーミーティング)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その4)(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その4)(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その3)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(その3)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その2)(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その2)(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その2)(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その2)(光・電子デバイス実装,デバイス技術,及び一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(その2)(放電・回路/一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(その2)(放電・回路/一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(材料デバイスサマーミーティング)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(材料デバイスサマーミーティング)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(材料デバイスサマーミーティング)
- 3次元加振機構による電気接点の劣化現象 : 3D加振機構の基本特性
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング
- 3次元加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振装置試作(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 3次元加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振装置試作(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 測定データとその考察
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗の変化
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 摺動接触機構との比較(トライボロジー/一般)
- 第48回IEEE Holm会議報告 : 新しい展開を目指して
- SC-5-1 XPSによる摺動面生成皮膜の測定について
- C-5-1 高周波における開離アークの再点弧現象(C-5.機構デバイス,一般講演)
- C-5-1 電磁コンタクタ用接点の消耗・転移の経時変化に関する一実験
- タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(1)
- いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象に関する研究 : 接触抵抗変動のモデリング
- タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(2)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(14)
- 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 : 開離時のみにアークを発生させた場合の諸特性
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(15)
- タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(3)(放電,EMC/一般)
- タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(3)(放電,EMC/一般)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(16)(放電,EMC/一般)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(16)(放電,EMC/一般)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(17)(トライボロジー/一般)
- タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(3)
- タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(3)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(19)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(20)
- いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗変動のモデリング(2)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(21)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(19)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(20)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構の特性に関する基礎的検討(22)(酸化物,酸化物エレクトロニクス,一般)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構の特性に関する基礎的検討(22)(酸化物,酸化物エレクトロニクス,一般)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構の特性に関する基礎的検討(22)(酸化物,酸化物エレクトロニクス,一般)
- C-5-10 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象(17) : 加振機構の特性に関する基礎的検討(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(その2)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗変動のモデリング(24)(放電・実装,EMC,一般)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構の特性に関する基礎的検討(23)(放電・実装,EMC,一般)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗変動のモデリング(24)(放電・実装,EMC,一般)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構の特性に関する基礎的検討(23)(放電・実装,EMC,一般)
- 微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 時系列変動データの解析(27)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構の特性に関する基礎的検討(22)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構の特性に関する基礎的検討(22)