ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 測定データとその考察
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概要
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電気接点に実用的振動を与えうる加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討した.本機構では,加振回数が約750回超より,接触抵抗は殆ど200Ω以上を示した.1700万回超より,接触抵抗値は,200Ωと1000Ωの間を変動した.約4500万回の加振によって,1000Ωの接触抵抗が測定された.比較として、電気接点に微小摺動を与えうる機構を開発した.摺動回数10万回超の頃から,接触抵抗値が増加傾向となり,その後,最大値約400Ωから最小値約20Ωの間を変動した。2つの機構は,その操作方法及び操作回数に相違があるものの,接触抵抗値の変動現象には類似点が見られた.
- 2008-01-18
著者
-
澤 孝一郎
慶応義塾大
-
和田 真一
TMCシステム
-
園田 健人
TMCシステム
-
越田 圭治
TMCシステム
-
菊地 光男
TMCシステム
-
久保田 洋彰
TMCシステム
-
天尾 裕士
TMCシステム
-
峯岸 寛人
TMCシステム(株)
-
古賀 圭
慶応義塾大学理工学部
-
天尾 裕士
Tmcシステム(株)
-
西岡 亮
慶応義塾大学理工学部
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