ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(材料デバイスサマーミーティング)
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概要
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我々は,電気接点に実用的振動を与えうる加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討した.本機構を用いて、総加振回数が3000万回から4500万回の加振実験を行った。加振後、一定の期間を経ると、接触抵抗値が上昇し約200Ωとなった。この傾向は実験終了まで持続した。比較として、電気接点に微小摺動を与える摺動機構による、総摺動回数が850万回の摺動実験を行った。摺動後20万回後に接触抵抗が上昇し約200Ωとなった。2つの機構は,その操作方法及び操作回数に相違があるものの,接触抵抗値の変動現象には類似点が見られた.これらの接触抵抗の変動に対してモデル化を行った。本加振機構及び摺動によれば,微小振動が接触抵抗に与える影響についてより現実的に考察できる可能性が示唆された.
- 2008-06-20
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