ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 摺動機構のモデリング(1)(材料デバイスサマーミーティング)
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概要
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著者らは,摺動接触機構において,摺動力2.0N/pinおよび0.3N/pin,摺動振幅±5.0μmおよび±10.0μmの条件で,それぞれ約2500万回の実験を行い,抵抗値の増加を測定した,また,変動初期における抵抗値の立ち上がりの傾向をモデル化の可能性を示唆できた.平均化(平滑化)したデータにおいてはロジスティック・関数に時間変動成分を付加した拡張モデルが適用できることが示唆された.接触抵抗の時系列変動における接点の相対変位に与えるパラメータ(摺動振幅・摺動力)の検討をした.そして,この接触抵抗値の変動には単純化した変動モデルが適用できる可能性が示唆された.
- 2010-06-18
著者
-
澤 孝一郎
慶応義塾大
-
和田 真一
TMCシステム
-
園田 健人
TMCシステム
-
越田 圭治
TMCシステム
-
ノロブリン サインダー
TMCシステム
-
久保田 洋彰
TMCシステム
-
小田部 正能
TMCシステム(株)
-
ノロブリン サインダー
Tmcシステム(株)
-
澤 孝一郎
慶應大学:日本工業大学
-
小田部 正能
Tmcシステム
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