ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(12)(材料デバイスサマーミーティング)
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概要
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著者らは,摺動接触機構を用いて,摺動力2.0Nおよび0.3N,摺動振幅±5.0μmおよび±10.0μmの条件で,それぞれ約2500万回の実験を行い,抵抗値の増加を測定した.さらに,接触抵抗の時系列変動における接点の相対変位に与えるパラメータ(摺動振幅・摺動力)の検討をした.接点の相対変位に与えるパラメータ(摺動振幅・摺動力)に対して,抵抗値変動開始時期と消費エネルギーにおいては相関が見られ,摺動振幅と摺動力との相関に関して,接触面における堆積物の動的平衡を考慮した酸化物蓄積をも考慮したモデルの必要性が示唆された.
- 2010-06-18
著者
-
澤 孝一郎
日本工業大学
-
澤 孝一郎
慶応義塾大
-
沢 孝一郎
慶應義塾大学大学院
-
和田 真一
TMCシステム
-
園田 健人
TMCシステム
-
越田 圭治
TMCシステム
-
ノロブリン サインダー
TMCシステム
-
久保田 洋彰
TMCシステム
-
小田部 正能
TMCシステム(株)
-
ノロブリン サインダー
Tmcシステム(株)
-
澤 孝一郎
慶應大学:日本工業大学
-
澤 孝一郎
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
澤 孝一郎
慶応義塾大学:日本工業大学
-
小田部 正能
Tmcシステム
-
越田 圭治
TMCシステム株式会社
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