C-5-12 閉成時アークのみの場合の電極質量変化とアークエネルギーの関連(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2012-08-28
著者
-
澤 孝一郎
日本工業大学
-
吉田 清
日本工業大学
-
沢 孝一郎
慶應義塾大学大学院
-
澤 孝一郎
慶應大学:日本工業大学
-
澤 孝一郎
慶應義塾大学大学院
-
鈴木 健司
富士電機機器制御(株)
-
代島 英樹
富士電機機器制御(株)
-
澤 孝一郎
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
澤 孝一郎
日本工大 工
-
高谷 幸悦
富士電機機器制御(株)
-
澤 孝一郎
日本工業大学:慶応大学
関連論文
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(その5)(トライボロジー/一般)
- 自動車用燃料ポンプ駆動DCモータのブラシ・整流子の摩耗
- 第24回電気接点に関する国際会議ICEC2008(フランス)概要報告(トライボロジ・一般)
- リレーに搭載されたコンタクトの連続開閉時のアーク継続時間と接触抵抗の計測(ショートノート(卒論・修論特集))
- C-5-13 エタノール系燃料中の燃料ポンプ用DCモータのブラシ摩耗(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-9 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象(第14報) : モデリング(その6)(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-8 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象(第13報) : モデリング(その5)(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-7 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現状(第12報) : 接触抵抗(その9)(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-6 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象(第11報) : 接触抵抗(その8)(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-11 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象(第10報) : モデリング(その4)(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-10 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象(第9報) : 接触抵抗(その7)(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-9 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象(第8報) : 接触抵抗(その6)(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-8 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象(第7報) : 接触抵抗(その5)(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 摺動機構のモデリング(1)(材料デバイスサマーミーティング)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(12)(材料デバイスサマーミーティング)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 摺動機構のモデリング(1)(材料デバイスサマーミーティング)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(12)(材料デバイスサマーミーティング)
- 電力用Auメッキリング-AgPdブラシシステムの接触抵抗劣化過程
- 各種燃料中フューエルポンプ駆動用DCモータの整流特性と信頼性(ショートノート(卒論・修論発表会))
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その11)
- 電力伝達用小形スリップリングにおけるニッケルメッキ厚と接触信頼性(ショートノート(卒論・修論発表会))
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(その8)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(その7)(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(その7)(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(9)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(9)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(9)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(9)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その13)(放電,実装,EMC,一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その13)(放電,実装,EMC,一般)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(13)
- C-5-5 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象(15) : 加振機構のモデリング(7)(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 小形スリップリング機構の摺動特性と劣化過程に関する研究
- 電気摺動接触におよぼす表面皮膜の影響について
- SC-5-1 XPSによる摺動面生成皮膜の測定について
- 不活性気体の種類と摺動接触現象の関係についての一検討
- 摺動面の気体吸着と皮膜生成による接触電圧降下への影響
- 摺動面の気体吸着による接触電圧降下変動への影響
- 摺動接触現象に及ぼす酸素濃度の影響
- C-5-3 小電力伝達用金メッキスリップリングの劣化過程の検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- ガソリン内におけるカーボンフラット整流子の整流・摩耗特性
- 高周波リレーの現状調査
- 自動車燃料ポンプ駆動高出力DCモータ用カーボンフラット整流子の基本特性
- 電磁コンタクタ開閉時のアーク継続時間と電極質量の変化に対する電圧の影響(ショートノート(卒論・修論発表会))
- CS-2-1 直流電磁コンタクタのアーク継続時間に対する電圧と電流の影響(CS-2.接触・接続技術および電気接点現象の課題と展望,シンポジウムセッション)
- CS-2-6 電力供給用小形スリップリングシステムの特性への潤滑油補給の影響(CS-2.接触・接続技術および電気接点現象の課題と展望,シンポジウムセッション)
- CS-2-5 雰囲気温度変化における銅・銀スリップリングとカーボン・銀ブラシの摺動特性に関する研究(CS-2.接触・接続技術および電気接点現象の課題と展望,シンポジウムセッション)
- B-20-46 4ロータヘリコプターの自立飛行制御(B-20.ユビキタス・センサネットワーク,一般セッション)
- C-5-3 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象(16) : 接触抵抗について(10)(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(1)
- 各種燃料中における燃料ポンプ駆動用DCモータの整流特性と信頼性(卒論・修論特集(ショートノート))
- いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象に関する研究 : 接触抵抗変動のモデリング
- タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(2)
- ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(14)
- 開離時のみにアークを発生させた場合の電磁コンタクタの諸特性に対する電圧の影響(卒論・修論特集(ショートノート))
- 電流通電機構の接触面における通電点の観測(卒論・修論特集(ショートノート))
- 雰囲気温度変化における銅・銀スリップリングとカーボン・銀ブラシの摺動特性に関する研究(卒論・修論特集(ショートノート))
- 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 : 開離時のみにアークを発生させた場合の諸特性
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(15)
- 直流電磁コンタクタ開離時のアーク電圧波形と電流波形 : 電源電圧と電流値のアーク放電への影響(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- 直流電磁コンタクタ開離時のアーク電圧波形と電流波形 : 電源電圧と電流値のアーク放電への影響(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- 直流電磁コンタクタ開離時のアーク電圧波形と電流波形 : 電源電圧と電流値のアーク放電への影響(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- 直流電磁コンタクタ開離時のアーク電圧波形と電流波形 : 電源電圧と電流値のアーク放電への影響(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
- タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(3)(放電,EMC/一般)
- タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(3)(放電,EMC/一般)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(16)(放電,EMC/一般)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(16)(放電,EMC/一般)
- 電力供給用小形スリップリングシステムの特性への潤滑油補給の影響(トライボロジー/一般)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(17)(トライボロジー/一般)
- CS-3-4 自動車燃料ポンプ用DCモータの整流子・ブラシの摩耗に与える整流アークの影響に関する研究(CS-3.コネクタおよび電気接点関連技術の最新動向-直流から高周波まで-,シンポジウムセッション)
- CS-3-1 閉成時のみにアークが発生する場合の電磁コンタクタの諸特性(CS-3.コネクタおよび電気接点関連技術の最新動向-直流から高周波まで-,シンポジウムセッション)
- A-1-37 4ロータヘリコプターの自立飛行制御(A-1.回路とシステム,一般セッション)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(19)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(20)
- 小電力供給用金メッキスリップリングシステムの特性に及ぼす潤滑油補給の影響(卒論・修論特集(ショートノート))
- 閉成時のみにアークを発生させた場合の電磁コンタクタの諸特性に対する電圧の影響(卒論・修論特集(ショートノート))
- メタノール中整流現象の基本特性(卒論・修論特集(ショートノート))
- 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 : 閉成時のみにアークを発生させた場合の諸特性
- C-5-12 閉成時アークのみの場合の電極質量変化とアークエネルギーの関連(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討 (26)
- プリント基板上に設置した対象物の基本的力学パラメータ評価方法(次世代電子機器を支える三次元積層技術と先端実装の設計・評価技術論文)
- C-5-5 DC給電用金ブラシと金スリップリングの基礎特性(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 電磁コンダクタにおけるCu系接点材料の諸特性(卒論・修論特集(ショートノート))
- 各種燃料中における自動車燃料ポンプ用DCモータの整流に関する研究(卒論・修論特集(ショートノート))
- A-1-20 4ロータヘリコプターの自立飛行制御(A-1.回路とシステム)
- CS-2-5 Cu接点使用時の電磁コンタクタの諸特性に関する実験(CS-2.電気接点による接続・遮断技術の最新動向)
- 電磁コンタクタにおけるCu系接点材料の諸特性 : CuとCuCr接点のアーク継続時間と接触抵抗
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(28)(放電,実装,EMC,一般)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(28)(放電,実装,EMC,一般)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(27)(材料デバイスサマーミーティング)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(27)(材料デバイスサマーミーティング)
- ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(27)(材料デバイスサマーミーティング)
- CS-2-2 ハンマリング加振機構を用いた基本力学量の評価方法(質量・力・加速度)(CS-2.電気接点による接続・遮断技術の最新動向)
- C-5-6 小電力供給用貴金属スリップリングの高信頼化に関する研究(C-5.機構デバイス)
- 小電力伝達用スリップリングへの潤滑油補給の効果
- C-5-5 自動車用バイオ燃料中でのアーク放電による炭素接点の消耗(C-5.機構デバイス)
- 小電力供給用金メッキスリップリングシステムの特性に及ぼす潤滑油補給の影響
- メタノール中整流現象の基本特性
- 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 : 閉成時のみにアークを発生させた場合の諸特性
- A-1-16 4ロータヘリコプターの自立飛行制御(A-1.回路とシステム,一般セッション)