電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 : 閉成時のみにアークを発生させた場合の諸特性
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概要
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これまで、電磁コンタクタを連続開閉させた場合のアーク継続時間、接触抵抗、および電極質量の変化量に与える電源電圧の影響について調べてきた。閉成時と開離時の両方にアークを発生させた場合と開離時のみにアークを発生させた場合は以前に報告した。今回は、閉成時のみにアークを発生させた実験結果について報告する。実験条件は同一で、電源電圧は100V〜160Vの間で変化させ、負荷電流は5Aとして、開閉周期1秒で10万回までの連続開閉を行った。その結果、閉成時アークのみを発生させた場合、接触抵抗値は電源電圧の影響を受けずに一定で、開離時アークを発生させた場合より低くなった。閉成時アークの継続時間は非常に短いが、電極表面の観測から陽極側には凹みを生じ、陰極側には突起が発生することが確認できた。
- 2012-05-18
著者
-
澤 孝一郎
日本工業大学
-
沢 孝一郎
慶應義塾大学
-
吉田 清
日本工業大学
-
沢 孝一郎
慶應義塾大学大学院
-
澤 孝一郎
慶應大学:日本工業大学
-
澤 孝一郎
慶應義塾大学大学院
-
沢 孝一郎
慶應義塾大学理工学部
-
鈴木 健司
富士電機機器制御(株)
-
代島 英樹
富士電機機器制御(株)
-
澤 孝一郎
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
澤 孝一郎
慶応大
-
澤 孝一郎
慶應義塾大学理工学部電気工学科
-
澤 孝一郎
日本工大 工
-
高谷 幸悦
富士電機機器制御(株)
-
澤 孝一郎
日本工業大学:慶応義塾大学
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