ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(その7)(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
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概要
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電気接点に実用的振動を与えうるハンマリング加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してきた.時間領域において,質点近似を用いて加振機構の外部入力関数として単位ステップ関数の組み合わせを使用し,数学的モデル化を実施しPCによるシミュレーションを行なった.加えて、空間領域において薄膜および薄板に対して連続体近似を用いて解析できる可能性を示唆した.初期条件及び境界条件を実験等により見積もり,このモデルを用いて変位・加速度・力学的エネルギーなどの基本的な力学量に関する考察を行えうる可能性を示唆した.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2010-02-12
著者
-
澤 孝一郎
日本工業大学
-
澤 孝一郎
慶応義塾大
-
和田 真一
TMCシステム
-
園田 健人
TMCシステム
-
越田 圭治
TMCシステム
-
ノロブリン サインダー
TMCシステム
-
菊地 光男
TMCシステム
-
久保田 洋彰
TMCシステム
-
ノロブリン サインダー
Tmcシステム(株)
-
澤 孝一郎
慶応義塾大学:日本工業大学
-
越田 圭治
TMCシステム株式会社
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