ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(9)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
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概要
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電気接点に実用的振動を与えうるハンマリング加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してきた.時空間領域において,基板に対して,外力として単位ステップ関数の組み合わせを使用した平板における連続体近似モデルを構築し,実験結果と比較しうる可能性を示唆した.また,コネクタにおける摩擦力および慣性力を考慮した簡単なモデル化を行い,実験値との対応を検討し,接点における時系列振動を解析し,さらに電気接点における劣化現象を説明しうる可能性を示唆した.初期条件・境界条件を考慮してこれらのモデルを用いることで変位・加速度・力学的エネルギーなどの基本的な力学量に関する考察を行いうる可能性を示唆した.
- 2010-08-19
著者
-
澤 孝一郎
日本工業大学
-
澤 孝一郎
慶応義塾大
-
沢 孝一郎
慶應義塾大学大学院
-
和田 真一
TMCシステム
-
園田 健人
TMCシステム
-
越田 圭治
TMCシステム
-
ノロブリン サインダー
TMCシステム
-
久保田 洋彰
TMCシステム
-
小田部 正能
TMCシステム(株)
-
ノロブリン サインダー
Tmcシステム(株)
-
澤 孝一郎
慶應大学:日本工業大学
-
SONODA Taketo
TMC System Co., Ltd.
-
澤 孝一郎
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
澤 孝一郎
慶應義塾大学理工学部電気工学科
-
澤 孝一郎
慶応義塾大学:日本工業大学
-
小田部 正能
Tmcシステム
-
ノロブリン サインダー
TMC System Co., Ltd.
-
越田 圭治
TMCシステム株式会社
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