澤 孝一郎 | 日本工業大学工学部電気電子工学科

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概要

• 同名の論文著者
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関連著者

• 澤 孝一郎

  日本工業大学工学部電気電子工学科

• 沢 孝一郎

  慶應義塾大学大学院

• 澤 孝一郎

  日本工業大学

• 澤 孝一郎

  慶應大学:日本工業大学

• 澤 孝一郎

  日本工大 工

• 和田 真一

  TMCシステム

• 越田 圭治

  TMCシステム

• 久保田 洋彰

  TMCシステム

• 澤 孝一郎

  慶応義塾大

• 越田 圭治

  TMCシステム株式会社

• ノロブリン サインダー

  TMCシステム

• 澤 孝一郎

  慶應義塾大学大学院

• 澤 孝一郎

  慶應義塾大学理工学部電気工学科

• 澤 孝一郎

  慶応大

• 澤 孝一郎

  慶応義塾大学:日本工業大学

• 沢 孝一郎

  慶應義塾大学

• 小田部 正能

  TMCシステム(株)

• ノロブリン サインダー

  Tmcシステム(株)

• 小田部 正能

  Tmcシステム

• 澤 孝一郎

  日本工業大学工学部

• 澤 孝一郎

  日本工業大学:慶応義塾大学

• 沢 孝一郎

  慶應義塾大学理工学部

• 越田 圭治

  TMCシステム株式会社市場開発本部

• 柳 国男

  TMCシステム

• 吉田 清

  日本工業大学

• 益田 直樹

  TMCシステム株式会社

• 鈴木 健司

  富士電機機器制御(株)

• 川述 真裕

  TMCシステム

• 園田 健人

  TMCシステム

• 石黒 明

  TMCシステム株式会社

• 渡邊 勝昭

  富士電機機器制御(株)

• 上野 貴博

  日本工業大学

• 代島 英樹

  富士電機機器制御(株)

• ノロブリン サインダー

  TMCシステム株式会社

• 久我 宣裕

  横浜国立大学大学院工学府

• 澤 孝一郎

  慶應義塾大学

• SONODA Taketo

  TMC System Co., Ltd.

• 久我 宣裕

  横浜国立大学大学院

• 竹田 弘毅

  TMCシステム株式会社

• ノロブリン サインダー

  TMC System Co., Ltd.

• 久我 宣裕

  横浜国立大学 工学部

• 竹田 弘毅

  TMCシステム

• 久我 宣裕

  横浜国立大学

• 森田 登

  日本工業大学

• 石塚 大貴

  TMCシステム

• 石塚 大貴

  Tmcシステム株式会社

• 高谷 幸悦

  富士電機機器制御(株)

• 和田 真一

  TMCシステム株式会社

• 遠藤 薫

  和歌山アレルギー研究所

• 遠藤 薫

  日本サーボ株式会社

• 鈴木 康誉

  日本工業大学

• 森田 登

  日本工業大学電気電子工学科

• 四倉 拓朗

  日本工業大学工学部

• 久我 宣裕

  横浜国立大学工学部

• 吉田 清

  川崎医科大学循環器内科

• 村上 俊之

  慶應義塾大学

• 池口 徹

  埼玉大学大学院理工学研究科研究部数理電子情報部門

• 小倉 啓

  慶應義塾大学

• 森田 登

  (株)東芝

• 池口 徹

  埼玉大学 大学院 理工学研究科

• 池口 徹

  埼玉大

• 堀尾 喜彦

  東京電機大学大学院工学研究科電気電子工学専攻

• 堀尾 喜彦

  東京電機大学

• 劉 麗清

  日本工業大学工学部

• 小川 将太

  日本工業大学工学部

• 坂田 徳之

  日本工業大学工学部電気電子工学科

• 遠藤 薫

  日本電産サーボ株式会社

• 小倉 佑太

  日本工業大学工学部電気電子工学科

• 村上 俊之

  慶應大学

• 中村 彰洋

  慶應義塾大学理工学部

• 吉田 清

  川崎医科大学内科循環器部門

• 中村 真

  ダイダン株式会社技術開発本部

• 池口 徹

  埼玉大学大学院理工学研究科:埼玉大学総合研究機構脳科学融合研究センター

• 上野 貴博

  日本サーボ株式会社

• SONODA Taketo

  TMCシステム

• 小林 博樹

  日本工業大学工学部

• 中村 彰洋

  慶應義塾大学

• 児玉 正太

  日本工業大学工学部

• 佐藤 寛之

  日本工業大学工学部

• 北島 英毅

  日本工業大学工学部

• 池口 徹

  埼玉大学大学院理工学研究科

• 池口 徹

  Graduate School Of Science And Engineering Saitama University:brain Science Institute Saitama Univer

• 木田 智也

  日本工業大学工学部電気電子工学科

• 富高 亘

  日本工業大学工学部電気電子工学科

• 柳 国男

  Tmcシステム株式会社

• サインダー ノロブリン

  Tmcシステム株式会社

• 鄭 展維

  日本工業大学

• 劉 麗清

  日本工業大学

• 小沼 達也

  日本工業大学工学部

• 田中 龍明

  日本工業大学工学部

• 須川 満博

  日本工業大学

• 中村 真

  日本工業大学工学部電気電子工学科

• 杉山 知寛

  日本工業大学工学部電気電子工学科

• 久保田 洋彰

  TMCシステム株式会社

• 北島 英毅

  日本工業大学

• 遠藤 薫

  日本電産サーボ

• ノロブリン サインダー

  TMCシステム株式会社市場開発本部

• 久保田 洋彰

  TMCシステム株式会社市場開発本部

• 澤 孝一郎

  日本工業大学:慶応大学

• 益田 直樹

  東京工業高等専門学校

• 寺崎 真志

  東京工業高等専門学校

• 澤 孝一郎

  慶應義塾大学:日本工業大学

• 永井 祥子

  慶応義塾大学

• 小川 将太

  日本工業大学

• 池口 徹

  埼玉大学

• 坂本 一真

  日本工業大学工学部

• 佐藤 智寛

  日本工業大学工学部

• 米嶋 大介

  日本工業大学工学部電気電子工学科

• 大山 峻

  日本工業大学工学部電気電子工学科

• 杉山 知寛

  日本工業大学 工学部 電気電子工学科

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著作論文

• ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 摺動機構のモデリング(1)(材料デバイスサマーミーティング)
• ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(12)(材料デバイスサマーミーティング)
• ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 摺動機構のモデリング(1)(材料デバイスサマーミーティング)
• 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響
• ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(9)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
• ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(9)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
• ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(9)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
• ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構のモデリング(9)(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
• ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その13)(放電,実装,EMC,一般)
• ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その13)(放電,実装,EMC,一般)
• ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(13)
• バイオ燃料中におけるDCモータの基本的整流特性
• 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化とアークエネルギー(放電・EMC/一般)
• 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化とアークエネルギー(放電・EMC/一般)
• C-5-5 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象(15) : 加振機構のモデリング(7)(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• C-5-3 小電力伝達用金メッキスリップリングの劣化過程の検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• 電磁コンタクタ開閉時のアーク継続時間と電極質量の変化に対する電圧の影響(ショートノート(卒論・修論発表会))
• 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響--開離時のみにアークを発生させた場合の諸特性 (機構デバイス)
• CS-2-1 直流電磁コンタクタのアーク継続時間に対する電圧と電流の影響(CS-2.接触・接続技術および電気接点現象の課題と展望,シンポジウムセッション)
• CS-2-6 電力供給用小形スリップリングシステムの特性への潤滑油補給の影響(CS-2.接触・接続技術および電気接点現象の課題と展望,シンポジウムセッション)
• CS-2-5 雰囲気温度変化における銅・銀スリップリングとカーボン・銀ブラシの摺動特性に関する研究(CS-2.接触・接続技術および電気接点現象の課題と展望,シンポジウムセッション)
• C-5-3 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象(16) : 接触抵抗について(10)(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• 直流電磁コンタクタ開離時のアーク電圧波形と電流波形--電源電圧と電流値のアーク放電への影響 (レーザ・量子エレクトロニクス)
• 直流電磁コンタクタ開離時のアーク電圧波形と電流波形--電源電圧と電流値のアーク放電への影響 (光エレクトロニクス)
• 直流電磁コンタクタ開離時のアーク電圧波形と電流波形--電源電圧と電流値のアーク放電への影響 (電子部品・材料)
• 直流電磁コンタクタ開離時のアーク電圧波形と電流波形--電源電圧と電流値のアーク放電への影響 (機構デバイス)
• タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(1)
• いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象に関する研究 : 接触抵抗変動のモデリング
• タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(2)
• ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(14)
• 開離時のみにアークを発生させた場合の電磁コンタクタの諸特性に対する電圧の影響(卒論・修論特集(ショートノート))
• 雰囲気温度変化における銅・銀スリップリングとカーボン・銀ブラシの摺動特性に関する研究(卒論・修論特集(ショートノート))
• 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 : 開離時のみにアークを発生させた場合の諸特性
• ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(15)
• 直流電磁コンタクタ開離時のアーク電圧波形と電流波形 : 電源電圧と電流値のアーク放電への影響(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
• 直流電磁コンタクタ開離時のアーク電圧波形と電流波形 : 電源電圧と電流値のアーク放電への影響(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
• 直流電磁コンタクタ開離時のアーク電圧波形と電流波形 : 電源電圧と電流値のアーク放電への影響(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
• 直流電磁コンタクタ開離時のアーク電圧波形と電流波形 : 電源電圧と電流値のアーク放電への影響(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
• タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(3)(放電,EMC/一般)
• タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(3)(放電,EMC/一般)
• ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(16)(放電,EMC/一般)
• ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(16)(放電,EMC/一般)
• ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(17)(トライボロジー/一般)
• 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 : 閉成時のみにアークを発生させた場合の諸特性 (機構デバイス)
• CS-3-4 自動車燃料ポンプ用DCモータの整流子・ブラシの摩耗に与える整流アークの影響に関する研究(CS-3.コネクタおよび電気接点関連技術の最新動向-直流から高周波まで-,シンポジウムセッション)
• CS-3-1 閉成時のみにアークが発生する場合の電磁コンタクタの諸特性(CS-3.コネクタおよび電気接点関連技術の最新動向-直流から高周波まで-,シンポジウムセッション)
• A-1-37 4ロータヘリコプターの自立飛行制御(A-1.回路とシステム,一般セッション)
• ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(19)
• ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(20)
• 小電力供給用金メッキスリップリングシステムの特性に及ぼす潤滑油補給の影響(卒論・修論特集(ショートノート))
• 閉成時のみにアークを発生させた場合の電磁コンタクタの諸特性に対する電圧の影響(卒論・修論特集(ショートノート))
• メタノール中整流現象の基本特性(卒論・修論特集(ショートノート))
• いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗変動のモデリング(2)
• 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 : 閉成時のみにアークを発生させた場合の諸特性
• ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(21)
• ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構の特性に関する基礎的検討(22)(酸化物,酸化物エレクトロニクス,一般)
• ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構の特性に関する基礎的検討(22)(酸化物,酸化物エレクトロニクス,一般)
• ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構の特性に関する基礎的検討(22)(酸化物,酸化物エレクトロニクス,一般)
• C-5-10 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象(17) : 加振機構の特性に関する基礎的検討(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
• C-5-12 閉成時アークのみの場合の電極質量変化とアークエネルギーの関連(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
• ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗変動のモデリング(24)(放電・実装,EMC,一般)
• ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構の特性に関する基礎的検討(23)(放電・実装,EMC,一般)
• ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗変動のモデリング(24)(放電・実装,EMC,一般)
• ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構の特性に関する基礎的検討(23)(放電・実装,EMC,一般)
• ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討 (26)
• プリント基板上に設置した対象物の基本的力学パラメータ評価方法(次世代電子機器を支える三次元積層技術と先端実装の設計・評価技術論文)
• 微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗変動のモデリング(3)
• 微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 時系列変動データの解析(27)
• 電磁コンダクタにおけるCu系接点材料の諸特性(卒論・修論特集(ショートノート))
• 各種燃料中における自動車燃料ポンプ用DCモータの整流に関する研究(卒論・修論特集(ショートノート))

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