電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 : 閉成時のみにアークを発生させた場合の諸特性 (機構デバイス)

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概要

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• 2012-05-25

著者

• 沢 孝一郎

  慶應義塾大学

• 吉田 清

  日本工業大学

• 鈴木 健司

  富士電機機器制御(株)

• 澤 孝一郎

  日本工業大学工学部電気電子工学科

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