微小負荷条件における小形接点信頼性に関する検討
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概要
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近年, 通信リレー部品の小形化と高信頼性が強く望まれている。本研究では, 微小負荷条件における小形接点信頼性に与える影響を調べるため, 微小負荷電流を流して接点を開閉させた時の単子接点と双子接点の接触抵抗の測定やスティキング現象の観察を行い, それらの特性について考察を行うことを目的とする。DC抵抗負荷, 負荷電流100〜500mAで測定を行い, 双子接点の接触抵抗特性は単子接点のそれより低く安定して, 逆に, 双子接点のスティッキング発生率は単子接点より高いことを明らかにした。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-12-20
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