温度サイクル条件下でのHTSトラップ磁束の劣化に関する一検討

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概要

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• 2002-10-30

著者

• 沢 孝一郎

  慶應義塾大学

• 岩佐 幸和

  MIT

• 岩佐 幸和

  マサチューセッツ工科大学

• 木下 賢太郎

  慶應義塾大学

• 沢 孝一郎

  慶應義塾大

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