微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗変動のモデリング(3)
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概要
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著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してきた.開発した微摺動機構IIを用いて,電気接点の劣化現象を引き起こし,接触電圧の時系列変動データを取得した.位相面解析によりこの時系列変動データには準安定な周期閉軌道および分岐現象が存在することを見出した.また,大小2つの人工矩形波により時系列変動データは近似可能であることを示唆した.さらに,人工波の位相面解析にも同様な安定周期閉軌道と分岐現象がみられたが,差異も存在した.これらの現象は系の入力の非線形性に依存していると考えられたが,振幅や周波数のゆらぎやデータの飛び等に由来すると考えられるこの差異に関しては,系に内在する非線形性を考慮する必要が示唆された.
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2013-03-07
著者
-
沢 孝一郎
慶應義塾大学大学院
-
澤 孝一郎
慶應義塾大学
-
和田 真一
TMCシステム
-
越田 圭治
TMCシステム
-
久保田 洋彰
TMCシステム
-
澤 孝一郎
慶應義塾大学大学院
-
澤 孝一郎
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
澤 孝一郎
日本工大 工
-
越田 圭治
TMCシステム株式会社市場開発本部
-
澤 孝一郎
慶應義塾大学:日本工業大学
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