微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗変動のモデリング(4)
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概要
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著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してきた.開発した微摺動機構IIを用いて,電気接点の劣化現象を引き起こし,接触電圧の時系列変動データを取得する.位相面解析によりこの時系列変動データには準安定な周期閉軌道および分岐現象が存在することを見出す.また,周波数における大小2つの理論矩形波により,接触電圧の時系列変動データは近似可能であることを示唆する.さらに,理論波の位相面解析にも同様な安定周期閉軌道と分岐現象がみられるが,実験波との差異も存在する.これらの現象は系の入力の非線形性に依存していると考えられるが,振幅や周波数のゆらぎやデータの飛び等に由来すると考えられる差異に関しては,系に内在する非線形性を考慮する必要を示唆する.
- 2013-04-18
著者
-
沢 孝一郎
慶應義塾大学大学院
-
澤 孝一郎
慶應義塾大学
-
和田 真一
TMCシステム
-
越田 圭治
TMCシステム
-
久保田 洋彰
TMCシステム
-
澤 孝一郎
慶應義塾大学大学院
-
澤 孝一郎
慶應義塾大学:日本工業大学
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