ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討 (26)
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概要
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著者らは,いくつかの加振機構(ハンマリング加振機構,微摺動機構,タッピング・デバイスなど)により,実際の微小振動による電気接点の影響を検討してきた.本論文では,まず,金属球落下による方法とハンマリング加振機構による方法とを用いて,被加振物に与える加速度および加振力に関して比較し,後者においてその測定値の分散が小さいことを示す.次に,ハンマリング加振機構を用いて,プリント回路基板(PCB)上に設置した電子デバイスにおける有効質量・有効加振力・有効加速度を見積ることができる簡単で実際的な方法を提案する.さらに,有効加振力と乾性摩擦力から,微小振動下における電気接点の劣化機構について考察し,両者に相関関係があることを示唆する.最後に,有効加速度が,被加振物が集中衝撃加振力を受けた場合の過渡応答特性を有していると仮定し,系の減衰係数比・固有振動数を見積る.
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2012-12-14
著者
-
澤 孝一郎
日本工業大学
-
沢 孝一郎
慶應義塾大学大学院
-
和田 真一
TMCシステム
-
越田 圭治
TMCシステム
-
久保田 洋彰
TMCシステム
-
澤 孝一郎
慶應大学:日本工業大学
-
澤 孝一郎
慶應義塾大学大学院
-
澤 孝一郎
日本工業大学工学部電気電子工学科
-
柳 国男
TMCシステム
-
澤 孝一郎
日本工大 工
-
サインダー ノロブリン
Tmcシステム株式会社
-
和田 真一
TMCシステム株式会社
-
越田 圭治
TMCシステム株式会社市場開発本部
-
越田 圭治
TMCシステム株式会社
-
益田 直樹
東京工業高等専門学校
-
寺崎 真志
東京工業高等専門学校
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