ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗について(その5)(放電・EMC/一般)
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概要
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著者らは,鉛直方向のハンマリング加振によって電気接点に実用的な振動を与える機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を検討した.まず,ハンマリング加振に対する数学的モデルを定義し逆問題の解析方法を用いて理論的なアプローチを実施した.系に加える外力としてデルタ関数及びステップ関数を用い,本機構に対して簡便なモデル化とシミュレーションを実施した.その結果,微小振動影響下における現実の接点の劣化現象に対して加速試験が行えることが示唆された.次に,3条件(150G&2.0N,150G&0.3N and 400G&2.0N)下において,電気接点に起きた時系列変動を測定した.接触抵抗の変動は3条件すべてで測定されたが,接触抵抗値・立ち上がり時期などの点でおのおの異なることが示された.原因・要因については,その他の電気的・機械的・物理的・化学的要因についてもさらに注目し,注意深く検討すべきであると考える.
- 2009-05-15
著者
-
澤 孝一郎
慶応義塾大
-
和田 真一
TMCシステム
-
園田 健人
TMCシステム
-
越田 圭治
TMCシステム
-
菊地 光男
TMCシステム
-
久保田 洋彰
TMCシステム
-
越田 圭治
TMCシステム株式会社
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