ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗の変化
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概要
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電気接点に実用的振動を与えうる加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討した.本機構では,加振回数が約350万回超の頃から,換算接触抵抗値が増加傾向となり,約750万回超からは,殆ど200Ω超であった.1700万回超は,最大値約1000Ωから最小値約200Ωの間を変動した.また,本加振装置を数学的なモデル化を実施し,PCでシミュレーションを行なった.一方,比較として,摺動接触機構を持つ装置により連続摺動によって電気接点の劣化現象を測定することができた.摺動回数10万回超の頃から,接触抵抗値が増加傾向となり,換算接触抵抗値が,最大値約400Ωから最小値約20Ωの間を変動した.2つの機構は,その操作方法及び操作回数に相違があるものの,接触抵抗値の変動現象には類似点が見られた.
- 2007-12-14
著者
-
澤 孝一郎
慶応義塾大
-
和田 真一
TMCシステム
-
園田 健人
TMCシステム
-
越田 圭治
TMCシステム
-
菊地 光男
TMCシステム
-
久保田 洋彰
TMCシステム
-
天尾 裕士
TMCシステム
-
高橋 康夫
Tmc System Co. Ltd.
-
古賀 圭
慶応義塾大学理工学部
-
天尾 裕士
Tmcシステム(株)
-
西岡 亮
慶応義塾大学理工学部
-
高橋 康夫
TMCシステム(株)
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