1504 Siナノトランジスタ熱管理のための熱・電気連成解析(nMOSFET)特性変動評価(OS15.電子デバイス・電子材料と計算力学(1),オーガナイズドセッション)
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概要
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- 2009-10-10
著者
-
畠山 友行
富山県立大学機械システム工学科
-
伏信 一慶
慶應義塾大学理工学部
-
伏信 一慶
東京工業大学
-
小川 邦康
慶應義塾大学 理工学部 機械工学科
-
石塚 勝
富山県立大学 工学部 機械システム工学科
-
Ishizuka M
Toshiba Corp. Kanagawa Jpn
-
畠山 友行
富山県立大学
-
石塚 勝
富山県立大学
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