GaP単結晶表面構造のRHEED観察
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概要
著者
-
中西 洋一郎
静岡大学大学院工学研究科電子工学
-
島岡 五朗
The University of New South Wales
-
Ohno Morifumi
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
-
大野 守史
沖セミコンダクター(株)
-
Ohno Morifumi
Semiconductor Technology Laboratory Oki Electric Industry Co. Ltd.
-
大野 守史
静岡大学電子工学研究所
-
大野 守史
静岡大学大学院電子科学研究科
-
島岡 五朗
静岡大学大学院電子科学研究科
-
大野 守史
(株) ソルテック
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