Si(111)7×7清浄表面上の銀薄膜のRMEEDによる観察
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概要
著者
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Ohno Morifumi
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
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大野 守史
沖セミコンダクター(株)
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Ohno Morifumi
Semiconductor Technology Laboratory Oki Electric Industry Co. Ltd.
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大野 守史
静岡大学電子工学研究所
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大野 守史
(株) ソルテック
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