Ohno Morifumi | Semiconductor Technology Laboratory Oki Electric Industry Co. Ltd.

スポンサーリンク

概要

• 大野 守史の詳細を見る
• 同名の論文著者
• Semiconductor Technology Laboratory Oki Electric Industry Co. Ltd.の論文著者

関連著者

• Ohno Morifumi

  National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

• 大野 守史

  沖セミコンダクター(株)

• Ohno Morifumi

  Semiconductor Technology Laboratory Oki Electric Industry Co. Ltd.

• 大野 守史

  静岡大学電子工学研究所

• 大野 守史

  (株) ソルテック

• 大野 守史

  沖電気工業

• 池田 博一

  ISAS JAXA

• 池田 博一

  宇宙航空研究開発機構

• 新井 康夫

  KEK素核研

• 新井 康夫

  高エネルギー加速器研究機構素粒子原子核研究所

• 池田 博一

  (独)宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部

• 新井 康夫

  高エネルギー加速器研究機構・素核研

• 花垣 和則

  阪大理

• 三好 敏喜

  高エネルギー加速器研究機構素粒子原子核研究所

• 原 和彦

  筑波大数物

• 高力 孝

  KEK

• 海野 義信

  高エ研

• 寺田 進

  高エ研

• 高力 孝

  高エ研

• 坪山 透

  KEK素核研

• 池本 由希子

  KEK素核研

• 廣瀬 穣

  阪大理

• 坪山 透

  高エ研

• 池本 由希子

  高エ研

• 田内 一弥

  高エ研

• 三宅 秀樹

  筑波大数物

• 河内山 真美

  筑波大数物

• 瀬賀 智子

  筑波大数物

• 池上 陽一

  高エ研

• 原 和彦

  筑波大・物理

• 原 和彦

  筑波大

• 中西 洋一郎

  静岡大学電子工学研究所

• 三好 敏喜

  高エ研

• 三宅 秀樹

  筑波大数理

• 河内山 真美

  筑波大数理

• 瀬賀 智子

  筑波大数理

• 新井 康夫

  高エ研

• 島岡 五朗

  The University of New South Wales

• 島岡 五朗

  静岡大学電子工学研究所

• 初井 宇記

  理研XFEL

• 竹谷 篤

  理研

• 一宮 亮

  理研

• 初井 宇記

  理化学研究所

• 工藤 統吾

  JASRI

• 石野 宏和

  岡山大理

• 一宮 亮

  高エネルギー加速器研究機構素粒子原子核研究所

• 工藤 統吾

  高輝度光科学研究センター

• 羽澄 昌史

  高エ研

• 羽澄 昌史

  KEK

• 工藤 統吾

  (財)高輝度光科学研究センター

• 山本 均

  東北大理

• 田窪 洋介

  東北大理

• 長嶺 忠

  東北大理

• 堀井 泰之

  東北大理

• 大野 守史

  沖セミコンダクター

• 沖原 将生

  沖セミコンダクター宮城

• 大野 守史

  沖電気工業(株)

• 竹谷 篤

  理研仁科センター

• Wada Takehiko

  Institute Of Multidisciplinary Research For Advanced Materials Tohoku University

• Ikeda Hirokazu

  Institute of Space and Astronautical Science Japan Aerospace Exploration Agency

• Arai Yasuo

  High Energy Accelerator Research Organization

• 羽澄 昌史

  KEK素核研

• Wada Takehiko

  Institute Of Space And Astronautical Science Japan Aerospace Exploration Agency

• 工藤 統吾

  理化学研究所

• Nagata Hirohisa

  Institute Of Space And Astronautical Science Japan Aerospace Exploration Agency

• 沖原 将生

  沖セミコンダクター宮城(株)

• 大久保 純一

  静岡大学電子工学研究所

• 長戸路 雄厚

  (株) ソルテック

• 北野 隆一

  (株) ソルテック

• 初井 宇記

  理化学研究所 播磨研究所

• 羽澄 昌史

  大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構(kek)

• 石野 宏和

  岡山大学

• 工藤 統吾

  理研:JASRI

• IKEDA Hirokazu

  Institute of Space and Astronautical Science (ISAS), Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA)

• 石野 宏和

  岡山大

• 花垣 和則

  大阪大理

• 内田 智久

  高エ研

• 内田 智久

  東大理

• 中西 洋一郎

  静岡大学大学院工学研究科電子工学

• 三好 敏喜

  KEK素核研

• 池上 陽一

  KEK素核研

• 海野 義信

  KEK素核研

• 寺田 進

  KEK素核研

• 高力 孝

  KEK素核研

• 田内 一弥

  KEK素核研

• 原 和彦

  筑波大数理

• 工藤 統吾

  理研XFEL計画推進本部

• 初井 宇記

  理研X線自由電子レーザー計画推進本部

• 工藤 統吾

  理研X線自由電子レーザー計画推進本部

• 林 卓

  Department Of Materials Science Shonan Institute Of Technology

• 廣瀬 穣

  大阪大

• 池本 由希子

  高エネルギー加速器研究機構

• 竹谷 篤

  岡山大・教養

• 竹谷 篤

  広大理

• WADA Takehiko

  Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency

• 淡路 直樹

  (株)富士通研究所

• 永田 洋久

  宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部

• 永田 洋久

  (独)宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部

• NAGATA Hirohisa

  Institute of Space and Astronautical Science, Japan Aerospace Exploration Agency

• 難波 義捷

  東京農工大 工

• 花垣 和則

  大阪大学理学研究科

• Nabatame Toshihide

  Mirai-association Of Super-advanced Electronics Technologies (mirai-aset) National Institute Of Adva

• Nabatame T

  Aist Tsukuba Jpn

• Nabatame Toshihide

  Mirai-aset Advanced Industrial Science And Technology (aist)

• Nabatame Toshihide

  Mirai Project Association Of Super-advanced Electronics Technology (aset)

• Ota Hiroyuki

  Mirai-advanced Semiconductor Research Center (mirai-asrc) National Institute Of Advanced Industrial

• Toriumi Akira

  Mirai-advanced Semiconductor Research Center (mirai-asrc) National Institute Of Advanced Industrial

• Toriumi A

  Univ. Tokyo Tokyo Jpn

• Toriumi Akira

  The Authors Are With Advanced Lsi Technology Laboratory Toshiba Corporation:presently With The Depar

• Toriumi Akira

  Advanced Lsi Technology Toshiba Corporation

• 和田 武彦

  (独)宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部

• AKIYAMA Koji

  MIRAI-ASET

• FUKUDA Hisashi

  Semiconductor Technology Laboratory, Oki Electric Industry Co., Ltd.

• 毛利 敏男

  東京農工大工

• Fujiwara Hideaki

  Mirai-aset Aist

• HORIKAWA Tsuyoshi

  MIRAI-ASRC, AIST

• 新井 康夫

  (共)高エネルギー加速器研究機構素粒子原子核研究所

• 大野 守史

  (独)産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門

• Toriumi Akira

  Mirai Advanced Semiconductor Research Center (asrc) National Institute Of Advanced Industrial Scienc

• 村林 岑生

  浜松ホトニクス(株)

• KADOSHIMA Masaru

  MIRAI, Association of Super-Advanced Electronics Technologies (ASET)

• MISE Nobuyuki

  MIRAI, Association of Super-Advanced Electronics Technologies (ASET)

• MIGITA Shinji

  MIRAI, Advanced Semiconductor Research Center (ASRC), National Institute of Advanced Industrial Scie

• Hayashi Takafumi

  Department Of Applied Physics Faculty Of Engineering The University Of Tokyo

• Hayashi Takayoshi

  Advanced Research Institute For Science And Engineering Waseda University

• Fukuda H

  Ntt Microsystem Integration Laboratories

• 松浦 恵樹

  浜松ホトニクス

• Kadoshima Masaru

  Mirai Association Of Super-advanced Electronics Technologies (aset)

• Migita Shinji

  Mirai-advanced Semiconductor Research Center (mirai-asrc) National Institute Of Advanced Industrial

• Toriumi Akira

  Advanced Lsi Technology Laboratory Research & Development Center Toshiba Co.

• Ohno Morifumi

  Mirai-aset Aist

• Uchiyama Akira

  Lsi Process Technology Division Oki Electric Industry Co. Ltd.

• HAYASHI Takahisa

  Semiconductor Technology Laboratory, Oki Electric Industry Co., Ltd.

• Arakawa Tomiyuki

  Semiconductor Technology Laboratory, Oki Electric Industry Co., Ltd.

• Matsumoto Ryoichi

  LSI Process Technology Division, Oki Electric Industry Co., Ltd.

• Fukuda Hisashi

  Semiconductor Technology Laboratory Oki Electric Industry Co. Ltd.:(present Address)department Of El

• Hayashi T

  Mirai-asrc-aist

• Horikawa Tsuyoshi

  Mirai Project Association Of Super-advanced Electronics Technology (aset)

• Arakawa Tomiyuki

  Semiconductor Technology Laboratory Oki Electric Industry Co. Lid.

• 大野 守史

  静岡大学大学院電子科学研究科

• 島岡 五朗

  静岡大学大学院電子科学研究科

• Fukuda Hisashi

  Semiconductor Technology Laboratory Oki Electric Industry Co. Lid.

• 大野 守史

  東京農工大工学部電気工学科

• Mise Nobuyuki

  Mirai-aset Aist

• Ota Hiroyuki

  Mirai-advanced Semiconductor Research Center (mirai-asrc) National Institute Of Advanced Industrial

• Matsumoto Ryoichi

  Lsi Process Technology Division Oki Electric Industry Co. Ltd.

• Toriumi Akira

  Mirai-asrc Aist

• Horikawa Tsuyoshi

  Mirai-asrc Aist

• 淡路 直樹

  (株) ソルテック

• 小平 政宣

  (株) ソルテック

• 岸本 健

  (株) ソルテック

• 土舘 裕幸

  三菱電機 (株)

• Nagase Koichi

  Graduate University For Advanced Studies

• 花垣 和則

  阪大

• Migita Shinji

  MIRAI Project, Nanoelectronics Research Institute (NeRI), National Institute of Advanced Industrial Sciences and Technology (AIST), Tsukuba West, Tsukuba, Ibaraki 305-8569, Japan

• Akiyama Koji

  MIRAI, Association of Super-Advanced Electronics Technologies (ASET), Tsukuba, Ibaraki 305-8569, Japan

• 村林 岑生

  浜松ホトニクス (株)

• 松浦 恵樹

  浜松ホトニクス (株)

• 毛利 敏男

  東京農工大学工学部

• 毛利 敏男

  東京農工大工学部電気工学科

• Ota Hiroyuki

  MIRAI Project, Nanoelectronics Research Institute (NeRI), National Institute of Advanced Industrial Sciences and Technology (AIST), Tsukuba West, Tsukuba, Ibaraki 305-8569, Japan

もっと見る 閉じる

著作論文

• 28pRE-7 SOI技術を用いた新しいX線イメージセンサーの開発II(28pRE 領域10,領域5合同 X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 27pSB-2 SOI pixel検出器用DAQシステムの開発,及び性能試験(27pSB 半導体検出器,MPGD,素粒子実験領域)
• 21aWA-3 SOI技術を用いた新しいX線イメージセンサーの開発(21aWA X線・中性子(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 23aSJ-6 SOI pixel検出器におけるセンサー及び回路開発(23aSJ 半導体検出器,素粒子実験領域)
• Cryogenic readout electronics for space borne far-infrared image sensors(Satellite Systems,ICSANE 2010 (International Conference on Space, Aeronautical and Navigational Electronics))
• C-11-2 完全空乏型SOI-CMOSを用いた遠赤外線センサー用極低温電子回路の開発(C-11.シリコン材料・デバイス,一般セッション)
• Flat-band Voltage Tunability and No Depletion Effect of Poly-Si Gate CMOS with Nanometer-size Metal Dots at the Poly-Si/Dielectric Interface
• Relationship between Nitrogen Profile and Reliability of Heavily Oxynitrided Tunnel Oxide Films for Flash Electrically Erasable and Programmable ROMs
• ステンレス鋼の加熱処理表面のX線光電子分光法 (XPS) による観察
• RMEEDパターンのMCPによる観察
• GaP単結晶表面構造のRHEED観察
• シングルグリッド型LEED-AES-AEAPS装置
• Si(111)7×7清浄表面上の銀薄膜のRMEEDによる観察
• Si (111) 7×7面上に蒸着したAgのRMEED観察
• MgO基板上に蒸着したAg薄膜のLEED-RHEED観察
• 真空材料におけるガス放出現象計測装置の製作とその基本特性
• ソルテックSORリング真空系の現状
• Development of Cryogenic Readout Electronics for Far-Infrared Astronomical Focal Plane Array
• GaP単結晶上に蒸着した銀薄膜のエピタキシャル成長(速報) (第25回真空に関する連合講演会プロシ-ディングス--昭和59年10月29日〜31日)

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク