Dislocation Reduction in MBE-Grown Ge on Si (001) by in situ Thermal Annealing : Condensed Matter
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概要
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- 社団法人応用物理学会の論文
- 1988-09-20
著者
-
Seki M
Ntt Applied Electronics Laboratories:(present Address)ntt Technology Transfer Corporation
-
OHMACHI Yoshiro
NTT Optoelectronics Laboratories
-
Fukuda Yukio
Ntt Applied Electronics Laboratories
-
Fukuda Yukio
Texas Instruments Tukuba Research & Development Center Limited
-
Fukuda Y
Ntt Optoelectronics Laboratories
-
Fukuda Yukio
Tsukuba Research And Development Center Texas Instruments Japan Limited
-
Ohmachi Y
Ntt Optoelectronics Laboratories
-
Ohmachi Yoshiro
Ntt Applied Electronics Laboratories
-
KOHAMA Yoshitaka
NTT Applied Electronics Laboratories
-
SEKI Masahiro
NTT Applied Electronics Laboratories
-
KOHAMA Yoshitaka
NTT Opto-electronics Laboratories
-
Seki M
Ntt Advanced Technologies
-
Fukuda Yuji
Kansai Photon Science Institute Japan Atomic Energy Agency
-
Kohama Y
Ntt Opto-electronics Laboratories
-
Fukuda Yuji
JAEA
-
Seki Masahiro
Ntt Advanced Technology
-
SEKI Masahiro
NTT Advanced Technologies
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