C-12-19 容量型指紋センサLSI良品選別のためのテスト手法
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2002-08-20
著者
-
久良木 億
Nttマイクロシステムインテグレーション研究所
-
重松 智志
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
-
森村 浩季
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
-
島村 俊重
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
-
町田 克之
NTTアドバンステクノロジ
-
岡崎 幸夫
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
-
島村 俊重
通信エネルギー研究所
-
森村 浩季
生活環境研究所
-
重松 智志
生活環境研究所
-
岡崎 幸夫
生活環境研究所
-
町田 克之
通信エネルギー研究所
-
久良木 憶
通信エネルギー研究所
-
島村 俊重
日本電信電話株式会社NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
-
町田 克之
東京工業大学,NTTアドバンステクノロジ株式会社
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