GND壁センサ構造を有する容量型指紋センサLSIの感度評価
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概要
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きれいな指紋画像を取得するため,グランド(GND)壁センサ構造を有する容量型指紋センサLSIを提案し,その感度について評価した.具体的には,指の抵抗を考慮したセンサ構造の回路モデルを考案し,従来のセンサ構造と比較しながら,指紋センサLSIのセンシング特性を数値解析により計算した.解析結果から,指の抵抗が感度を劣化させることを示し,GND壁センサ構造が指の抵抗を抑えることにより高感度を実現できることを明らかにした.試作チップによる実験結果から,本解析の妥当性と指紋画像取得におけるGND壁センサ構造の効果を示し,GND壁センサ構造を有する指紋センサLSIがきれいな指紋画像を取得するための高感度を達成できると結論づけた.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2002-09-13
著者
-
久良木 億
Nttマイクロシステムインテグレーション研究所
-
重松 智志
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
-
森村 浩季
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
-
島村 俊重
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
-
町田 克之
NTTアドバンステクノロジ
-
町田 克之
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
-
佐藤 昇男
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
-
町田 克之
Nttアドバンステクノロジ(株)先端プロダクツ事業本部
-
島村 俊重
日本電信電話株式会社NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
-
重松 智志
NTTマイクロインテグレーション研究所
-
町田 克之
東京工業大学,NTTアドバンステクノロジ株式会社
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