町田 克之 | NTTアドバンステクノロジ
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概要
関連著者
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町田 克之
NTTアドバンステクノロジ
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町田 克之
東京工業大学,NTTアドバンステクノロジ株式会社
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森村 浩季
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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重松 智志
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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町田 克之
Nttアドバンストテクノロジ株式会社
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島村 俊重
日本電信電話株式会社NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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島村 俊重
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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町田 克之
NTT通信エネルギー研究所
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町田 克之
Nttアドバンステクノロジ(株)先端プロダクツ事業本部
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岡崎 幸夫
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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森村 浩季
NTT生活環境研究所
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重松 智志
NTT生活環境研究所
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重松 智志
NTTマイクロインテグレーション研究所
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久良木 億
Nttマイクロシステムインテグレーション研究所
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久良木 億
Ntt通信エネルギー研究所
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町田 克之
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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桑原 啓
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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佐藤 昇男
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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石井 仁
日本電信電話株式会社nttマイクロシステムインテグレーション研究所
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石井 仁
日本電信電話株式会社:豊橋技術科学大学
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桑原 啓
日本電信電話株式会社nttマイクロシステムインテグレーション研究所
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石井 仁
日本電信電話株式会社
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藤井 孝治
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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羽田野 孝裕
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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島村 俊重
NTT生活環境研究所
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羽田野 孝裕
NTT 入出力システム研究所
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上原 一浩
NTT未来ねっと研究所ワイヤレスシステムイノベーション研究部
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川島 宗也
NTT
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中西 衛
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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岡崎 幸夫
NTT生活環境研究所
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山口 力
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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石井 仁
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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山口 力
日本電信電話(株)
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川島 宗也
Ntt未来ねっと研究所
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山口 陽
NTT未来ねっと研究所
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山口 力
Ntt
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武藤 伸一郎
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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池田 奈美子
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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武藤 伸一郎
日本電信電話株式会社NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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川島 宗也
日本電信電話株式会社NTT未来ねっと研究所
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川島 宗也
NTTアドバンステクノロジ株式会社
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武藤 伸一郎
Ntt マイクロシステムインテグレーション研
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羽田野 孝裕
NTT LSI研究所
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工藤 和久
Nttアドバンステクノロジ(株)
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池田 奈美子
日本電信電話株式会社nttマイクロシステムインテグレーション研究所
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小野 一善
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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斎藤 國夫
日本電信電話株式会社 NTT通信エネルギー研究所
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工藤 和久
NTTアドバンステクノロジ株式会社
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八木 祥次
日本電信電話株式会社 NTT通信エネルギー研究所
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町田 克之
日本電信電話株式会社 NTT通信エネルギー研究所
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阪田 知巳
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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小杉 敏彦
日本電信電話株式会社 Nttフォトニクス研究所
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嶋屋 正一
NTT通信エネルギー研究所
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阪田 知巳
日本電信電話株式会社
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森村 浩季
日本電信電話(株)マイクロシステムインテグレーション研究所
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小野 一善
Ntt マイクロシステムインテグレーション研
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小野 一善
日本電信電話株式会社nttマイクロシステムインテグレーション研究所
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小杉 敏彦
NTTフォトニクス研究所
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益 一哉
東京工業大学
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羽田野 孝裕
NTT生活環境研究所
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中西 衛
NTT生活環境研究所
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池田 奈美子
NTT生活環境研究所
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首藤 啓樹
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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山口 力
日本電信電話株式会社 NTT生活環境研究所
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矢野 正樹
NTTアドバンステクノロジ株式会社
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石井 仁
日本電信電話株式会社 NTT通信エネルギー研究所
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町田 克之
Nttシステムエレクトロニクス研究所
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下山 展弘
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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森村 浩季
日本電信電話株式会社NTT先端技術総合研究所
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首藤 啓樹
日本電信電話(株)
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重松 智志
日本電信電話(株)
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岡崎 幸夫
日本電信電話(株)
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田辺 泰之
NTT通信エネルギー研究所
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海野 秀之
NTT生活環境研究所
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石井 仁
NTT通信エネルギー研究所
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真弓 功人
(株)ミスズ工業
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千野 満
(株)ミスズ工業
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田澤 浩
(株)ミスズ工業
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亀井 敏和
NTTアドバンステクノロジ株式会社
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日暮 栄治
東京大学先端科学技術研究センター
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下山 展弘
日本電信電話株式会社NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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山口 力
NTT生活環境研究所
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斎藤 國夫
NTT通信エネルギー研究所
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八木 祥次
NTT通信エネルギー研究所
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首藤 啓樹
NTTシステムエレクトロニクス研究所
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石原 昇
東京工業大学
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下山 展弘
NTTシステムエレクトロニクス研究所
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嶋屋 正一
NTTシステムエレクトロニクス研究所
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久良木 億
NTTシステムエレクトロニクス研究所
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小西 敏文
NTTアドバンステクノロジ株式会
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石原 昇
東京工業大学総合研究院
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小杉 敏彦
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
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野村 聡
株式会社堀場製作所開発センター
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野村 聡
(株)堀場製作所開発センター
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野村 聡
堀場製作所
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年吉 洋
東京大学
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島村 俊重
通信エネルギー研究所
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森村 浩季
生活環境研究所
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重松 智志
生活環境研究所
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岡崎 幸夫
生活環境研究所
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町田 克之
通信エネルギー研究所
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久良木 憶
通信エネルギー研究所
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藤井 孝治
NTT通信エネルギー研究所
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島村 俊重
NTT通信エネルギー研究所
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藤井 孝治
NTT生活環境研究所
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久良木 億
日本電信電話株式会社 NTT通信エネルギー研究所
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野村 聡
株式会社堀場製作所
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天川 修平
東京工業大学
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佐藤 康博
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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森村 浩季
NTTアドバンステクノロジ
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石井 仁
NTTアドバンステクノロジ
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武藤 伸一郎
NTTアドバンステクノロジ
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羽田野 孝裕
日本電信電話(株)
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益 一哉
東京工業大学統合大学院
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天川 修平
東京工業大学統合研究院
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佐藤 康博
日本電信電話株式会社マイクロシステムインテグレーション研究所
-
藤原 琢
東京工業大学統合研究院
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山内 悠
株式会社堀場製作所
-
田邉 裕貴
株式会社堀場製作所
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小西 敏文
NTTアドバンストテクノロジ株式会社
-
小泉 弘
Ntt通信エネルギー研究所
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工藤 和久
NTT生活環境研究所
-
矢野 正樹
NTT通信エネルギー研究所
-
中西 衛
NTT LSI研究所
-
下山 展弘
Ntt生活環境研究所
-
秋谷 秀夫
NTTシステムエレクトロニクス研究所
-
藤原 琢
東京工業大学
-
日暮 栄治
東京大学先端科学技術センター
-
野村 聡
株式会社堀場製作所 開発センター
-
桑原 啓
日本電信電話(株)マイクロシステムインテグレーション研究所
-
小西 敏文
NTTアドバンステクノロジ株式会社
-
伊藤 浩之
東京工業大学
-
小杉 敏彦
日本電信電話(株),NTTフォトニクス研究所
-
町田 克之
NTTアドバンステクノロジ(株) 先端プロダクツ事業本部
-
佃 真文
東京工業大学
-
山根 大輔
東京工業大学
-
加賀谷 賢
東京工業大学
-
松島 隆明
NTTアドバンステクノロジ
著作論文
- 1チップ指紋認証LSI技術
- D-12-1 1 チップ指紋認証 LSI に適した指紋画像回転手法
- ピクセルセルフチェック機能を有する容量型指紋センサLSIのウエハレベルテスト手法
- GND壁センサ構造を有する容量型指紋センサLSIの感度評価
- C-12-19 容量型指紋センサLSI良品選別のためのテスト手法
- C-12-18 容量型指紋センサLSI用キャリブレーション回路技術
- C-12-16 1チップ指紋認証LSIに適した指紋画像最適化手法
- 高性能容量型指紋センサLSIと認証システムへの応用
- 画素並列画像強調および画像回転手法を用いた1チップ指紋認証LSI
- 感光性樹脂を用いたCuダマシンプロセスによるオンチップ厚膜配線
- STP法とスクリーン印刷法を組み合わせた新しいMEMS実装技術 (先端電子デバイスパッケージと高密度実装における評価・解析技術論文特集)
- C-12-70 生体検知機能内蔵指紋センサLSIのためのインピーダンス検出手法の検討(C-12.集積回路,一般セッション)
- 集積化CMOS-MEMS技術とその応用(配線・実装技術と関連材料技術)
- 集積化CMOS-MEMS技術
- 集積化CMOS-MEMS技術とその応用 (特集 MEMS技術のパッケージ分野への応用)
- 集積化CMOS-MEMS技術とその応用
- 有機薄膜の電着によるMEMSデバイスのスティッキング防止
- シームレスインテグレーション技術とその応用(MEMSパッケージングへ高まる期待)
- シームレスインテグレーション技術とその応用
- B-18-2 ユビキタス本人認証に向けたワイヤレス電池駆動指紋認証システム(B-18.バイオメトリクス・セキュリティ, 通信2)
- 指紋認証トークンシステム(安全と信頼とリスク : 安全・安心な社会を目指して)
- ワンチップ指紋認証LSIに適した超低消費電力指紋センシング回路技術
- 指紋センサLSI
- 適応型画質調整を用いた指紋センシング・デジタル変換手法(アナログ・デジアナ・センサ, 通信用LSI)
- 適応型画質調整を用いた指紋センシング・デジタル変換手法
- 容量型指紋センサ用ピクセルレベル自動キャリブレーション回路技術
- 指紋センサ認証LSI
- 高信頼性指紋センサLSI
- STP法とスクリーン印刷法を組み合わせた新しいMEMS実装技術(先端電子デバイスパッケージと高密度実装における評価・解析技術論文)
- A-1-42 ISFETを用いたワイヤレスpHセンサモジュール(A-1.回路とシステム,一般セッション)
- 集積化RF-MEMSとその実装技術(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- 集積化RF-MEMSとその実装技術(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- RF-MEMS一体化デュアルバンドVCO(技術展示/ポスター展示,技術展示,ポスター展示,無線信号処理実装,一般)
- RF-MEMS一体化デュアルバンドVCO
- C-2-1 フリップチップ実装によるRF-MEMS一体化VCO(C-2.マイクロ波A(マイクロ波・ミリ波能動デバイス),一般講演)
- 容量型指紋センサLSIでの偽造指による不正の検知に向けたインピーダンス検出手法
- 感光性樹脂を用いたCuダマシンプロセスによるオンチップ厚膜配線
- 異種機能融合化技術の研究動向 (特集論文1 システムデバイス実現のためのシームレスインテグレーション技術)
- C-2-45 感光性樹脂を用いた新厚膜プロセスによるオンチップRF用配線
- C-12-32 CMOS-MEMSの可動部位置制御のための容量センサ回路(センサ・3次元撮像素子,C-12.集積回路,一般セッション)
- ピクセルセルフチェック機能を有する容量型指紋センサLSIのウエハレベルテスト手法
- GND壁センサ構造を有する容量型指紋センサLSIの感度評価
- スタッドバンプ形成時の衝撃応力がデバイス劣化領域に及ぼす影響
- 高信頼性指紋センサLSI
- 容量型指紋センサ用ピクセルレベル自動キャリブレーション回路技術
- 指紋センサ認証LSI
- 1チップ指紋認証LSI
- 1チップ指紋認証LSI
- 1チップ指紋認証LSI
- エリアバンプ形成素子のパッケージング工程で生じるデバイス劣化
- MOSFET直上へのスタッドバンプによるデバイス劣化とアニールによる劣化挙動
- 指紋センサLSI
- 指紋センサLSI
- 指紋センサLSI
- C-12-28 高性能容量型指紋センサ回路技術
- ワンチップ指紋認証LSI用センサ--超薄型,小型化,高信頼性を実現
- 高感度容量型指紋センサ回路技術
- C-12-39 1チップ指紋センサ認証LSI
- 集積化CMOS-MEMS技術とその応用(招待講演,異種デバイス集積化/高密度実装技術,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- 集積化CMOS-MEMS技術とその応用(招待講演,異種デバイス集積化/高密度実装技術,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- 集積化CMOS-MEMS技術とその応用(LSIと高密度実装から見た異種機能集積技術への期待と課題招待論文)
- 集積化CMOS-MEMS技術とその応用
- 集積化CMOS-MEMS技術とその応用
- CMOS-MEMS指紋センサ
- アレイ型MEMS加速度センサの基礎検討