嶋屋 正一 | NTTシステムエレクトロニクス研究所

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概要

• 同名の論文著者
• NTTシステムエレクトロニクス研究所の論文著者

関連著者

• 嶋屋 正一

  NTTシステムエレクトロニクス研究所

• 町田 克之

  NTTアドバンステクノロジ

• 町田 克之

  Nttシステムエレクトロニクス研究所

• 嶋屋 正一

  NTT通信エネルギー研究所

• 下山 展弘

  NTTシステムエレクトロニクス研究所

• 久良木 億

  NTTシステムエレクトロニクス研究所

• 嶋屋 正一

  NTT システムエレクトロニクス研究所

• 秋谷 秀夫

  NTTシステムエレクトロニクス研究所

著作論文

• エリアバンプ形成素子のパッケージング工程で生じるデバイス劣化
• MOSFET直上へのスタッドバンプによるデバイス劣化とアニールによる劣化挙動
• 半導体関連信頼性研究の動向 : 第35回国際信頼性物理シンポジウム参加報告

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