島村 俊重 | NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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概要
関連著者
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島村 俊重
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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森村 浩季
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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島村 俊重
日本電信電話株式会社NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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町田 克之
NTTアドバンステクノロジ
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重松 智志
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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町田 克之
東京工業大学,NTTアドバンステクノロジ株式会社
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久良木 億
Nttマイクロシステムインテグレーション研究所
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重松 智志
NTTマイクロインテグレーション研究所
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岡崎 幸夫
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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道関 隆国
NTT通信エネルギー研究所
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道関 隆国
Nttシステムエレクトロニクス研究所
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藤井 孝治
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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町田 克之
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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町田 克之
Nttアドバンステクノロジ(株)先端プロダクツ事業本部
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町田 克之
Nttアドバンストテクノロジ株式会社
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羽田野 孝裕
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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中西 衛
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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池田 奈美子
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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桑原 啓
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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羽田野 孝裕
NTT 入出力システム研究所
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池田 奈美子
日本電信電話株式会社nttマイクロシステムインテグレーション研究所
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久良木 億
Ntt通信エネルギー研究所
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森村 浩季
NTT生活環境研究所
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重松 智志
NTT生活環境研究所
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町田 克之
NTT通信エネルギー研究所
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島村 俊重
NTT通信エネルギー研究所
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島村 俊重
NTTシステムエレクトロニクス研究所
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佐藤 昇男
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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島村 俊重
NTT生活環境研究所
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桑原 啓
日本電信電話株式会社nttマイクロシステムインテグレーション研究所
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小野 一善
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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阪田 知巳
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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品川 満
Ntt通信エネルギー研究所
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羽田野 孝裕
NTT LSI研究所
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阪田 知巳
日本電信電話株式会社
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道関 隆国
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
-
武藤 伸一郎
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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宇賀神 守
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
-
原田 充
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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山田 順三
NTT通信エネルギー研究所
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羽田野 孝裕
NTT生活環境研究所
-
中西 衛
NTT生活環境研究所
-
池田 奈美子
NTT生活環境研究所
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岡崎 幸夫
NTT生活環境研究所
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下山 展弘
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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道関 隆国
Ntt マイクロシステムインテグレーション研
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下山 展弘
日本電信電話株式会社NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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原田 充
Ntt未来ねっと研究所:マイクロシステムインテグレーション研究所
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原田 充
日本電信電話株式会社nttマイクロシステムインテグレーション研究所
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柴田 信太郎
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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道関 隆国
Ntt
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武藤 伸一郎
Ntt マイクロシステムインテグレーション研
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柴田 信太郎
Nttマイクロシステムインテグ レーション研究所
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柴田 信太郎
Nttマイクロシステムインテグレーション
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小野 一善
Ntt マイクロシステムインテグレーション研
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小野 一善
日本電信電話株式会社nttマイクロシステムインテグレーション研究所
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島村 俊重
通信エネルギー研究所
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森村 浩季
生活環境研究所
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重松 智志
生活環境研究所
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岡崎 幸夫
生活環境研究所
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町田 克之
通信エネルギー研究所
-
久良木 憶
通信エネルギー研究所
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藤井 孝治
NTT通信エネルギー研究所
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山口 力
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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首藤 啓樹
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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藤井 孝治
NTT生活環境研究所
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工藤 和久
NTTアドバンステクノロジ株式会社
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石井 仁
NTTマイクロシステムインテグレーション研究所
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首藤 啓樹
日本電信電話(株)
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山口 力
日本電信電話(株)
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石井 仁
日本電信電話株式会社nttマイクロシステムインテグレーション研究所
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中西 衛
NTT LSI研究所
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首藤 啓樹
NTTシステムエレクトロニクス研究所
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石井 仁
日本電信電話株式会社:豊橋技術科学大学
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山口 力
Ntt
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工藤 和久
Nttアドバンステクノロジ(株)
-
石井 仁
日本電信電話株式会社
著作論文
- 1チップ指紋認証LSI技術
- D-12-1 1 チップ指紋認証 LSI に適した指紋画像回転手法
- C-12-11 指紋画像のオンチップ認証処理に適したセルラーロジックプロセッシング回路
- ピクセルセルフチェック機能を有する容量型指紋センサLSIのウエハレベルテスト手法
- GND壁センサ構造を有する容量型指紋センサLSIの感度評価
- C-12-19 容量型指紋センサLSI良品選別のためのテスト手法
- C-12-18 容量型指紋センサLSI用キャリブレーション回路技術
- C-12-16 1チップ指紋認証LSIに適した指紋画像最適化手法
- 高性能容量型指紋センサLSIと認証システムへの応用
- 指紋画像のオンチップ認証処理に適したセルラーロジックプロセッシング回路
- 画素並列画像強調および画像回転手法を用いた1チップ指紋認証LSI
- C-12-70 生体検知機能内蔵指紋センサLSIのためのインピーダンス検出手法の検討(C-12.集積回路,一般セッション)
- 有機薄膜の電着によるMEMSデバイスのスティッキング防止
- ワンチップ指紋認証LSIに適した超低消費電力指紋センシング回路技術
- 容量型指紋センサ用ピクセルレベル自動キャリブレーション回路技術
- 指紋センサ認証LSI
- 容量型指紋センサLSIでの偽造指による不正の検知に向けたインピーダンス検出手法
- B-4-44 低電圧CMOS回路の電磁波耐性改善手法
- EOハンディプローブを用いた極低電圧CMOS回路のEMC耐性評価
- 極低電圧CMOS回路におけるしきい値電圧設定法の評価
- 極低電圧CMOS回路におけるしきい値電圧設定法
- 極低電圧CMOS回路におけるしきい値電圧設定法
- 極低電圧CMOS回路におけるしきい値電圧設定法
- 極低電圧CMOS回路におけるしきい値電圧設定法
- 1GHz級動作サブ0.5V差動型ED-CMOS/SOI回路技術(回路技術(一般,超高速・低電力・高機能を目指した新アーキテクチャ))
- 1GHz級動作サブ0.5V差動型ED-CMOS/SOI回路技術
- EOハンディープローブを用いた極低電圧CMOS回路のEMC耐性解析 : Sub-1V MTCMOS/SIMOX回路の高EMC耐性実証
- EOハンディープローブを用いた極低電圧CMOS回路のEMC耐性解析 : Sub-1V MTCMOS/SIMOX回路の高EMC耐性実証
- C-12-32 CMOS-MEMSの可動部位置制御のための容量センサ回路(センサ・3次元撮像素子,C-12.集積回路,一般セッション)
- ピクセルセルフチェック機能を有する容量型指紋センサLSIのウエハレベルテスト手法
- GND壁センサ構造を有する容量型指紋センサLSIの感度評価
- エネルギーハーベスティングによる無線センサ端末動作を実現するサブナノワット回路技術(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- エネルギーハーベスティングによる無線センサ端末動作を実現するサブナノワット回路技術(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- 集積化CMOS-MEMS技術とその応用(招待講演,異種デバイス集積化/高密度実装技術,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- 集積化CMOS-MEMS技術とその応用(招待講演,異種デバイス集積化/高密度実装技術,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- 集積化CMOS-MEMS技術とその応用
- 集積化CMOS-MEMS技術とその応用