MOVPE法による厚膜CdTe層を用いた大面積X線・γ線画像検出器に関する研究(II)(結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
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概要
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MOVPE法による厚膜CdTe成長層を用いた大面積X線γ線画像検出器の開発を目的として研究を行っている。Si基板上に成長した厚膜CdTe層を用いてヘテロ接合型ダイオード検出器を試作し,電気特性および放射線検出特性を評価した。その結果試作したダイオード検出器は良好な電気特性を示すことが確認できた.また^<241>Amをγ線源に用いて放射線検出測定を行ったところ,作製した検出器はγ線検出とそのエネルギー識別が可能であることが分かった。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-05-17
著者
-
安田 和人
名古屋工業大学 電気情報工学科
-
安形 保則
名古屋工業大学大学院機能工学専攻
-
ニラウラ マダン
名古屋工業大学大学院機能工学専攻
-
マダン ニラウラ
名古屋工業大学大学院機能工学専攻
-
ニラウラ マダン
名古屋工業大学・電気情報工学科
-
安田 和人
名古屋工業大学大学院
-
マダン ニラウラ
名古屋工業大学大学院
-
ニラウラ マダン
名古屋工業大学工学部
-
安形 保則
名古屋工業大学大学院
-
箕浦 晋平
名古屋工業大学大学院機能工学専攻
-
大橋 寛之
名古屋工業大学大学院機能工学専攻
-
新宮 一輝
名古屋工業大学大学院機能工学専攻
-
横田 昌大
名古屋工業大学大学院機能工学専攻
-
安田 和人
名古屋工業大学
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