一般シャノン展開を用いて合成される論理回路に対するテストパターンの生成
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概要
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一般シャノン展開は筆者らが提案した,常にどれか1つだけが値1をとる論理式の組を用いた論理関数の展開方法である.展開に用いる論理式の組は正規直交系として知られているものであり,任意の正規直交系によって,任意の論理関数を表現することが常に可能である.正規直交系とこれに乗じる論理式の間で変数を分離する場合に限っても,任意の論理関数に対し,単一縮退故障を100%検出可能な4段の論理回路を必ず得ることができる.0縮退故障のテストは正規直交系の要素1つずつを選ぶことで生成される.1縮退故障のテストは展開に現れる主項のリテラル1つを反転して得られる積項どうしの重なり方を調べることで簡単化される.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-02-10
著者
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