一般シャノン展開を用いて合成される論理回路の検査容易性
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概要
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一般シャノン展開は,筆者らが提案した,同時には1にならず,どれかは1になる論理式の組を用いた展開方法である.この展開が,互いに否定の関係にある2出力関数に共通の除数を探すことに有用なこと,共通積項の少ない多出力関数の多段合成にも有効なことはすでに示した.この展開を繰り返し用い,展開に用いた式を実現する部分にチェッカを挿入することで,入出力に単一パリティ符号を用い,共有部分回路を含むセルフチェッキング論理回路を構成できることも示した.本稿では,検査容易性について考察を深め,この展開がオフライン・テストにも有用であることを示す.これに先立ち,一般シャノン展開について述べた後,関連技術との比較を行ない,一般シャノン展開の位置付けと独自性を明かにする.
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 1993-03-01
著者
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